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[体系] 少子寿命测试仪如何校验

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LYGSIMG 发表于 2011-3-29 10:28:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
我公司是一家从事多晶体硅片制造的企业,公司现有少子测试仪一台,用于测量少数载流子的寿命,应用的是高频光电导衰退法,请教大家该设备如何校验啊?
地平线 发表于 2011-4-7 12:23:43 | 显示全部楼层
回复 1# LYGSIMG


    之前我们的做法是自己制作标准样片后,然后让北京帮忙检测定量,最后拿回来我们自己对比仪器。还可以。
 楼主| LYGSIMG 发表于 2011-4-8 14:09:56 | 显示全部楼层
感谢楼上的,可以具体说是北京的哪家公司吗.有相关资料的可以借鉴一下.我的邮箱是wanglingling1804@sina.com
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