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如何检测指示表指针末端上表面与刻度盘刻线面的距离?

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hblgs2004 发表于 2013-10-26 12:37:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
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che-zp 发表于 2013-10-27 18:24:41 | 显示全部楼层
利用工具显微镜分别调焦到指针末端上表面和刻度盘上表面
建波 发表于 2013-10-28 10:52:23 | 显示全部楼层
可用灯照看影子、或目测估读其间隔。
 楼主| hblgs2004 发表于 2013-10-28 11:31:49 | 显示全部楼层
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 楼主| hblgs2004 发表于 2013-10-28 11:37:28 | 显示全部楼层
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che-zp 发表于 2013-10-28 11:41:41 | 显示全部楼层
当然可以了,利用Z向(调焦方向)两处的焦距差
“利用微动升降读数装置或附加百分表分别读数”已经说得很清楚了
 楼主| hblgs2004 发表于 2013-10-28 12:20:19 | 显示全部楼层
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che-zp 发表于 2013-10-28 18:49:19 | 显示全部楼层
正常情况下目力检查就可以了
规矩湾锦苑 发表于 2013-10-29 00:38:23 | 显示全部楼层
回复 5# hblgs2004

  JJG34-2008 4.1.3条要求“指针末端上表面与刻度盘刻线面的距离不大于0.7mm”,在6.3.3条检定方法中说“检定指针末端上表面与刻度盘刻线面的距离,……有争议时用工具显微镜检定。检定时,采用5倍物镜,对指针上表面和刻度盘分别调焦,利用微动升降读数装置或附加百分表分别读数,……”。
  你说的只有万工显,没用过工具显微镜,其实万工显全称“万能工具显微镜”就是“工具显微镜”的一种,另外还有小工显、大工显等。“对指针上表面和刻度盘分别调焦”的意思是利用升降手柄使物镜升降,当指针上表面和刻度盘的刻线分别在物镜视场内影像显示清楚后读取它们的高度差。当工具显微镜有升降读数装置时可直接读取高度差,没有升降读数装置时,可将指示器(例如百分表)装夹在工具显微镜上,其测头与导轨平面或工作台表面接触,即可在指示器上读取指针上表面和刻度盘的刻线分别在物镜视场内影像显示清楚时的高度差。
 楼主| hblgs2004 发表于 2013-10-29 12:21:59 | 显示全部楼层
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rofly 发表于 2013-10-30 21:03:58 | 显示全部楼层
用读数显微镜~
wujiuniu 发表于 2013-11-8 15:12:23 | 显示全部楼层
回复 2# che-zp


    这样也可以测,学习了
wujiuniu 发表于 2013-11-8 15:16:02 | 显示全部楼层
回复 9# 规矩湾锦苑


    如果使用德国蔡司的万能工具显微镜,这个不确定度大概有多少?
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