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GB/T 12843-91半导体集成电路微处理器及外围接口电路电

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lxm4 发表于 2009-1-2 12:49:27 | 显示全部楼层 |阅读模式
【 标准编号 】 GB/T 12843-91
【 标准名称 】 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
【 英文名称 】 General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits'parameters for semiconductor integrated circuits
【 发布单位 】 国家技术监督局
【 批准单位 】 国家技术监督局
【 发布日期 】 1991-4-28
【 实施日期 】 1991-12-1
【英文关键词】 Circuits; Semiconductor devices; Integrated circuits; Microprocessors; Interfaces (data processing); Computer peripheral equipment; Measurement; Standardized parameters; Testing
【 所属标准 】 GB
【 开本页数 】 13P
【 引用标准 】 SJ/Z 9015.2(IEC 748-2)
【 起草单位 】 机械电子工业部北京机械工业自动化研究所; 电子标准化研究所
【 起 草 人 】 徐永康; 高喆; 张宏图

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