SJ 20348-93低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法
【 标准编号 】 SJ 20348-93<BR>【 标准名称 】 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法 <BR>【 英文名称 】 Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes<BR>【 发布单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 批准单位 】 中华人民共和国电子工业部<BR>【 发布日期 】 1993-5-11<BR>【 实施日期 】 1993-7-1<BR>【 开本页数 】 14P<BR>【 引用标准 】 SJ 2534.4-85; SJ 20347-93<BR>【 起草单位 】 电子工业部第十四研究所<BR>【 起 草 人 】 方同城; 龚至泽; 刘文华<BR>
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