平晶平面度如何计算？

JJG28-2000 附录D，25页，说
"当被检工作面小于或等于100mm时，按下式计算平面度  △f=(d↑2/95)*f95  "
这时不需要测量条纹间距a和弯曲量b吗？如何理解呢？

      对高精度的小平面，其平面度误差通常用平晶测量，测量时，将平晶的工作面置于被测表面上，并稍作倾斜以形成一个很小的空气楔，根据光波干涉原理，可看到光波干涉带。当干涉条纹呈现相互平行且为直的明、暗条纹时，则平面度误差为零。改变平晶与实际表面的夹角，干涉条纹之间的距离将产生变化，空气楔角增大，干涉条纹变密；反之，干涉条纹变疏。当平晶与被测实际表面形成封闭干涉条纹时，平面度误差为干涉条纹数乘以光波波长之半，若干涉条纹为不封闭的弯曲形状，平面度误差f为干涉条纹弯曲度与相邻两条纹间距之比（a/b）,再乘以光波波长之半，即f=a/b×(λ/2)。

[ 本帖最后由 duomeiti 于 2007-8-26 18:47 编辑 ]

你没有仔细看规程。这里说的是"当被检工作平晶直径于或等于100mm时，应按下式计算标准平晶在该区域的平面度”。目前各单位用的等厚干涉仪多是北京计量仪器厂出的，标准平晶直径150mm，检定证书会给两个平面度值，全范围的和D96（也就是中心2/3直径）的平面度。当被检平晶直径等于100mm时，应该用D96平面度值，当被检平晶直径小于100mm时，要按规程D.2公式计算标准平晶在该区域的平面度，实际就是计算修整量。

还有一点需要注意，就是规程上的公式是有印刷错误

估算出来准确吗？不是太好理解。