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ASTM E 2245-2005 用光学干涉仪测量薄的反射膜剩余张力...

兑水 发表于 2009-11-17 16:07:57 | 显示全部楼层 |阅读模式

E2245-02 Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

ASTM, 光学干涉仪, 反射, 张力

ASTM E 2245-2005.pdf

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