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ASTM F 76-1986 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁...

兑水 发表于 2009-11-18 10:16:44 | 显示全部楼层 |阅读模式

F76-86(2002) Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

ASTM, 半导体, 单晶, 系数, 霍尔

ASTM F 76-1986.pdf

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