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ASTM F 1259M-1996 金属电迁移造成的喷镀开路或阻力增加失效...

兑水 发表于 2009-11-30 10:34:34 | 显示全部楼层 |阅读模式

F1259M-96(2003) Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]

ASTM, 失效, 迁移, 金属, 阻力

ASTM F 1259M-1996.pdf

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ASTM F 1259M-1996 金属电迁移造成的喷镀开路或阻力增加失效...

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