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[几何量仪器] 采点、压线时,如何选择??????

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韩小露 发表于 2010-10-8 20:36:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
     我是刚参加工作的计量员,在使用光学投影的仪器采点或压线时,遇到的问题是:
           将被测零件转动不同角度后,测得的结果有偏差,那么该怎么确认结果?

davidow 发表于 2010-10-8 22:51:29 | 显示全部楼层
不转时多次测量,看重复性如何,以便练习采点、压线的技巧。
技巧好了,如果工件转了,值就变了,可能是工件的问题,取平均。或考虑所有值均不超差。
 楼主| 韩小露 发表于 2010-10-9 20:18:42 | 显示全部楼层
回复 2# davidow


    哦  谢谢!
   那如果被测表面粗糙,有高点和低点,可以用万工显压线测量吗?若可以,应压在哪个位置呢?高点、低点、还是取中间位置呢?
    若用TESA VISIO DCC那种光学投影的仪器,采点测试时通常会得到实际的轮廓曲线(高低不平的),这样测得的直线准确吗?
davidow 发表于 2010-10-9 22:19:55 | 显示全部楼层
理论上说,边缘不直时,压线应确定方向,使平行于刻线的包容被测边的两条平行线之间的距离最小。而刻线与边相交的位置,可以根据被测件的设计选用最大、最小或平均位置。
现代光学仪器采用成像元件进行数字化处理。轮廓线的弯曲是将图像二值化造成的。最终计算还要进行拟合,通常使用最小二乘法。应该比传统仪器受人为因素影响小一些。重复性或复现性好一些。
萧扬 发表于 2010-10-10 12:59:04 | 显示全部楼层
回复  davidow


    哦  谢谢!
   那如果被测表面粗糙,有高点和低点,可以用万工显压线测量吗?若可以 ...
韩小露 发表于 2010-10-9 20:18



    对于粗糙表面的测量,要结合工件的实际运用情况,比如使用时表面无较大磨损的,应压高点,否则,应在检测报告中注明表面情况及测量结果对应的压点位置。
zhilingbaozhen 发表于 2010-10-26 12:37:51 | 显示全部楼层
多次测量取平均值
langzi 发表于 2011-4-24 14:22:20 | 显示全部楼层
将被测零件转动不同角度后,测得的结果有偏差,
可能是平台X,Y轴不垂直
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