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[几何量仪器] x射线荧光镀层测厚仪

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qingqing_0610 发表于 2011-12-2 14:45:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
请问各位,X射线荧光镀层测厚仪用什么标准器校准或检定?校准或检定的方法是怎么样的?麻烦知道的师傅告诉一声,谢谢!
长度室 发表于 2011-12-3 21:54:53 | 显示全部楼层
忘了是规程还是规范了,今年新出的,就是这种仪器的。你搜一下,看能找到不。
yushiping 发表于 2012-2-2 14:04:46 | 显示全部楼层
JJF1306-2011你找找吧。
斗转星移 发表于 2012-3-26 20:18:08 | 显示全部楼层
[b]该测厚仪的校准,需要用建立“镀层测厚曲线”用的薄膜标准样片进行校准,每个镀种的测厚曲线至少需要用三个不同厚度的标准样片来校准。单镀层:误差小于百分之五,双镀层:误差小于百分之十,三镀层:误差小于百分之二十,一般都会认为在允许的范围内。
fangwen 发表于 2012-5-15 12:01:15 | 显示全部楼层
设备上一般自带测侯片,把测侯片拿到国家计量院检测一下就好了。在比对一下仪器的精度就可以了。
如果非得有检定方法的话,那你就参照JJF1306-2011自己编一个,标准器就是自带的厚度片。
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