平行度要求5um 平面度要求3um一般精度三次元测量可以满足吗

winfeng2008 · 发表于 2012-10-10 08:31:50

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我们公司现在在研发一款阳极钼片

产品平行度要求5um 平面度要求3um 使用一般精度三次元可以满足吗？

诸位可否帮忙提供下可以测量仪器的型号或品牌，如果能够有联系方式那就更完美了，

谢谢！

winfeng2008 · 发表于 2012-10-10 08:47:40

附件为产品2D图面，请各位帮忙看看

星空漫步 · 发表于 2012-10-10 19:46:41

回复 2# winfeng2008

直接拿激光扫描测量比较快。

yj407 · 发表于 2012-10-13 23:41:54

精度太高了，一般精度的三座标精度是不够的。可以用如果板子不大的话，可以用立试光学计去测量,或精度在1um以内的电子高度规去测。

dyyushan · 发表于 2012-10-24 09:35:19

不行了,精度太高了

qiuzhen · 发表于 2012-10-24 16:26:36

一般三坐标的不确定度会在4～5um，测量能力不能满足要求

显示全部楼层 · 发表于 2012-11-5 22:08:29

楼主是哪里人？自己检不方便的话可以送我院（辽宁省计量院）检测。

zhx730621 · 发表于 2012-11-9 09:11:53

薄形工件使用坐标机测量不太合适，用光学计小测力进行测量合适

王兴 · 发表于 2013-1-9 22:06:38

不适合，用光学测量较合适

规矩湾锦苑 · 发表于 2013-1-9 22:23:43

　　被测件太薄了，安装方法和测量力都会造成弯曲变形，因此就应该用检塞尺的方法来检测这个被测件。所以我非常赞成4楼yj407 版主和8楼zhx730621 量友的意见，最简单的方法是使用立式光学计检测。

issfly · 发表于 2013-5-9 21:52:33

这是什么零件？这么薄，但是平面度和平行度的要求这么高，很容易变形的，从设计的角度来说也不合理呢。

激光 · 发表于 2013-8-31 21:58:02

用接触式干涉仪进行测量

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