测长仪检定环规

单位买了台测长仪，想建标检定环规、光滑极限量规。现在概念比较模糊，我们测量环规的方法是用标准环规测出尺寸，在放被检环规。请问这是直接测量 还是比较测量。

标准环规和测长仪做标准器，是不是就不用买量块了。

冷风过经 发表于 2015-5-19 11:23
标准环规和测长仪做标准器，是不是就不用买量块了。

　　用标准环规调整测长仪零位，然后用测长仪校准各种规格的工作用光滑环规，这种校准方法称为“绝对测量法”。使用绝对测量法时，测长仪的“示值允差”会给校准结果引入不确定度分量。
　　一般测长仪的允差将大于1.5μm。就按1.5μm计，根据JJF1094的规定，公差带的一半大于4.5μm工作环规是可以用这种方法校准的，但公差的一半小于4.5μm的被检环规就不能这样校准，也就是说这样校准的校准结果是不值得采信的。
　　公差带的一半小于4.5μm的被检环规怎么校准呢？这就需要采用相对测量法（又称比较测量法）了，就必须用量块和量块附件组成与被检环规尺寸相同的内尺寸在测长仪上与被检环规的直径相比较。

标准尺寸与被测尺寸之差最好在60微米内。

学习了 我的理解一直有误

tcaw 发表于 2016-5-29 01:00
标准尺寸与被测尺寸之差最好在60微米内。

求教这个60微米是怎么算的，

直接测量和比较测量不是对立的。绝大多数比较测量属于直接测量，印象中教材里说到过直接比较测量。跟直接测量不同的是间接测量，就是不能直接测得被测量，而是通过测量与被测量相关的量，通过计算得到被测量的测量。比如测量一矩形的面积，通过测量它的长和宽，通过计算得到面积；测量两孔的中心距，通过测量两孔的内侧或外侧间距，再测量出两孔各自直径，通过计算得到两孔中心距；某物的密度通过测量质量和体积得到。这都属于间接测量。

学习了，谢谢

直接测量与间接测量相对，绝对测量与相对测量相对。

当然是比较测量