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[工程参量] X射线荧光镀层测厚仪

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18350222659 发表于 2024-11-27 10:30:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
实验室认可领域分类
仪器图片:
仪器名称: X射线荧光镀层测厚仪
英文名称: X-ray fluorescence coating thickness gauge
型号规格:
测量范围:
等级:
分辨率:
技术指标: -
生产厂家: -
描述: X射线荧光镀层测厚仪是一种基于能量色散方法的非破坏性定量分析仪器，具有分析测量多种金属材料成分和多种镀层厚度的功能，广泛应用于电子、半导体、首饰、材料分析等行业。
相关文档:  
相关标准: JJF 1306 X射线荧光镀层测厚仪校准规范
X射线荧光镀层测厚仪 图1.png
X射线荧光镀层测厚仪 计量特性.png
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