提高红外测温系统测温精度的研究

作者：  孙志远, 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春,130033;中国科学院研究生院,北京,100039; 李清安, 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春,130033;中国科学院研究生院,北京,100039; 乔彦峰, 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春,130033; 朱玮, 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春,130033   
     会议名称：  中国仪器仪表学会第八届青年学术会议   
     会议时间：  20060728   
     会议地点：  大连   
     主办单位：  中国仪器仪表学会   
     摘要：  基于比色测温原理设计了一种红外测温系统,测温前先使用标准黑体对测温系统进行标定,得到标定曲线R(T)-T.在测量目标的温度时,在目标附近放置一个超大面元黑体,通过这种方法来消除环境反射辐射和大辐射等辐射量的影响来提高红外测温系统的精度.