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GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

淡如水 发表于 2008-6-28 22:45:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

【标准编号】 GJB 128A-1997
【标准名称】半导体分立器件试验方法
【英文名称】 Test methods for semicondctor discrete devices
【发布单位】电子工业部
【批准单位】国防科学技术工业委员会
【发布日期】 1997-05-23
【实施日期】 1997-12-01
【开本页数】 254P
【替代标准】 GJB 128-1986
【起草单位】中国电子技术标准化研究所
【起草人】王长福等

GJB, 试验

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