分析编码的字符数由“分析编码”功能中所输入的栏数（3～8）确定，“分析编码” 是“0. 系统管理”中的“样品ID构成设定”的功能之一。
1) 例行分析
用于普通分析中，要进行极限检验。
2) 漂移校正系数更新
用于更新漂移校正系数、。第1次测量时（基准强度为0.0），基准强度也被保存。更新漂移校正系数时，系数被保存在漂移校正系数文件中。
3) PHA 调节
对每个探测器的PHA进行调节。按PHA调节条件中的设定情况，得到的调节结果和微分曲线可被打印出来。PHA调节结果（M值和分辨率）被保存在PHA调节结果文件中。
4) 检查分析
用于对仪器的分析精度进行控制。如果要求保存检查结果，可用报表程序（选择项）输出X－R管理图。
5) 标准样品测量
测量用于制作校正曲线的标准样品的X射线强度。测得的X射线强度被保存在标准样品文件中。
6) 偏差修正系数更新
用于自动更新偏差修正系数。按指定的偏差修正样品的极限检验条件，进行与例行分析相同的分析，用所得到的分析结果更新偏差修正系数。
7) 组分析
执行分析，直到计算出分析结果。
8) 自动组条件选择
根据预测量得到的X射线强度，选择极限检验条件，开展实际分析。
9) 强度测量
仅测量X射线的强度。
10) 库样品测量
测量用于FP法（选择项）的库样品。测定强度保存在库样品文件中。
11) 等待
设定在一组样品ID的中间，通过对话方式确定继续测量还是中断分析（“等待”没有分析编码）。比如，用8位置样品交换机时，如果预先设定了8个以上样品的样品ID，则每隔8个样品，设定一个“等待”，以便更换样品。
12) 循环分析开始
设定在要循环分析的样品的最前面。循环分析就是对设定在“循环分析开始”和“循环分析结束”之间的样品ID，按指定的次数进行重复分析。设定分析编码时，要指定DMC（动态循环）或STC（静态循环）。DMC是每分析一次，都要取出并重新装入样品。STC是在循环测定中，样品保持在测定位置。然后，以“99：99”（99分99秒）的形式设定两次循环分析之间的时间间隔。最后，设定循环分析次数。
如果进行的循环分析是“组分析”，会输出分析结果的统计值。
13) 循环分析结束
设定在要循环分析的样品的后面（无分析编码）。
14) 光路气氛切换
改变仪器分析室的气氛。在分析编码中指定真空（VAC）、大气（AIR）、或氦气（HE）（选择项）。切换光路气氛后，如果样品ID的分析条件中设定的光路气氛与仪器的光路气氛不同，则跳过该样品ID，继续分析下一个样品ID。
关于分析类别、分析编码以外的样品ID的构成项，请参见“7.5 样品ID项目的功能”一节。
1.2 样品ID的设定
样品ID只能用键盘设定。除了文本框输入的对话项目外，其它操作也可用鼠标操作。操作包括两部分，即在窗口上半部的样品ID表中选择行和在窗口下半部通过对话设定样品ID。在窗口的下部显示可选择的命令按钮。用鼠标点击按钮或按相应的键，可执行操作。
a. 样品 ID
样品ID是样品识别名的通称，也就是待测样品的识别信息。 关于所要分析的组分、各组分的测定条件等信息，预先登录在“组条件”或“测量条件”等当中。在分析窗口中，可将这些条件与待测样品相关联，并确定所得到的分析数据的处理方法。
在运行系统之前，要先在“样品ID构成”（在“系统管理”内）中设定样品ID所包含的功能项目。如果样品ID中至少包含“分析类别”和“分析编码”（条件名称）两种信息，就可进行分析。当然，样品ID中可以包含多种必要的功能项目，以便开展分析工作。
b. ID 设定行的选择
在分析窗口中，按上下箭头键，可使光标在屏幕上半部的“样品ID表”中上下移动。用鼠标点击显示范围内的行，也可移动光标。使样品ID表的显示内容按显示宽度移动时，可使用“Page Up”、“Page Down”按钮。
“”, “”
“Page Up”，“Page Down”
点击行 : 每次移动一行
: 每次移动10行，光标行的位置不变。
: 在所显示的范围内移动
在样品ID表中，使用插入 或 拷贝 , 粘贴 操作。
设定新的样品ID时, 只有连续空白行的最前一行可以对话。
要修改已经设定好的样品ID，只有当其尚未被分析时，才能进行对话。
c. 进入ID对话
进入ID对话有两种方法：
1) 将光标移动到可对话的行以后，按键盘上的回车键。
2) 用鼠标双击样品ID表
不管执行上述哪种操作，都进入样品ID对话模式。窗口的下半部显示对话信息。
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