GB/T 17473.3-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法

【 标准编号 】 GB/T 17473.3-1998
【 标准名称 】 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定  
【 英文名称 】 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics-Determination of sheet resistance
【 发布单位 】 国家质量技术监督局
【 批准单位 】 国家质量技术监督局
【 发布日期 】 1998-8-19
【 实施日期 】 1999-3-1
【 开本页数 】 7P
【 引用标准 】 GB/T 2421-1989; GB/T 8170-1987
【 起草单位 】 昆明贵金属研究所
【 起 草 人 】 陈一; 金勿毁