计量论坛»论坛 › ≡下载区≡ › 国外标准 › 美国标准 › ASTM D 5590-2000 用加速的四周琼脂平面培养分析测定漆 ...

ASTM D 5590-2000 用加速的四周琼脂平面培养分析测定漆膜及有...

兑水 发表于 2009-10-18 07:19:59 | 显示全部楼层 |阅读模式

D5590-00 Standard Test Method for Determining the Resistance of Paint Films and Related Coatings to Fungal Defacement by Accelerated Four-Week Agar Plate Assay

ASTM, 平面, 测定, 漆膜, 琼脂

ASTM D 5590-2000.pdf

26.17 KB, 下载次数: 8, 下载积分: 金币 -1

		自动登录	找回密码
密码			立即注册

账号		自动登录	找回密码
密码			立即注册

ASTM D 5590-2000 用加速的四周琼脂平面培养分析测定漆膜及有...

相关帖子