请教关于平面平晶的问题

平面度的公式是F=a/b×(λ/2)-△F 如果该平晶判定为凸，但[a/b×(λ/2)]＜△F，即F＜0，这时平晶的平面度应该多少？-F？还是判定为凸的？

此问题前后矛盾；
      第一个问题的答案：平晶的平面度=F的绝对值（理由：平面度的定义）；
      第二个问题的答案：不好下结论。因为问题的前面讲“如果该平晶判定为凸”，那么后面就不应出现F＜0，这属于前后矛盾。
     （ 纠正一点：根据通常用法，a/b×(λ/2)是否应改为b/a×(λ/2)，也就是讲b为干涉条纹的弯曲量，a为干涉带间的距离，所以，提问题应严谨。）

感谢你的回答和建议，刚刚接受平面平晶的检定工作，公式不是很熟，下次一定注意。。。
现在我这边的问题主要是等厚干涉仪成像质量有问题，对规程又不是很熟悉，暂时又没人指导，所以一个头两个大 - -b

我不知道我理解的对不对，请各位前辈指教：
1、平面度F=│[b/a×(λ/2)]-)-△F│；
2、对于判定的问题是依据JJG28-2000附录D中D.3的方法判定。

回复 3# jojo


      等厚干涉仪一般情况下成像质量不应有问题，估计是仪器的调整或光源部分没有做到最好，干涉带边缘不是很清晰，应该是正常现象。另外注意调整后干涉带应该是3或5条，而非3～5条，也就是讲保证视场的中央有一条。再者应注意温度变化和平衡温度的时间，温度对检定结果影响是比较大的，标准平晶的修正量△F和F96计算问题，请看一下http://www.gfjl.org/thread-133030-1-2.html
      规程中附录D中D.2平面度F的大小：F=b/a×(λ/2)，此处的F应理解为标准平晶平面度（△F）和被检工作平晶平面度的二者叠加值，被检工作平晶平面度应为F=│[b/a×(λ/2)]-△F│，估计你所谈到的公式1、平面度F=│[b/a×(λ/2)]-)-△F│，是笔下误。
      对规程的理解不一定对，供参考。新的平晶规程已审定，我已看到征求意见稿，应该讲改动不大。
      你的理解刨除公式中的笔下误，应该讲是正确的。

恩，多谢帮助~

回复 4# xqbljc
您好！请教您几个问题~~
在平面等厚干涉仪观察到的平面平晶只要为封闭式干涉条纹，那就应该判定为不合格吧？
前几天检了一个直径60的平晶，干涉条纹大概有5圈，技术规范上说是用圈数×光源波长（0.3μm），这样的话就是1.5μm，感觉有点大啊，呵呵，就是心里没底~~ 请问这种现象应该是正常的吧？？
再就是用等厚干涉仪检平晶的时候，经常要用手紧压被检和标准平晶，或者用手把被检平晶在标准平晶上来回移动（类似于研合），这样的话视场里的干涉条纹才会变少，否则就不止3、5条了，会出现很多也很密的干涉条纹，我想问的是我的这种方法可取吗？？

平面度不可能有负值，

回复 6# qc02071402


    谈不上请教，我们共同探讨交流。
    如果在等厚干涉仪目镜里观察到被检平面平晶呈封闭式干涉环条纹状，且能够排除非清洗不干净所至，那么可以说该被检平晶属磨损非常严重了，我们曾经检过这样的盲样，其平面度差的非常多，估计是考核单位用一定的技术手段进行了非正常的加工。平面平晶的正常使用磨损一般不会如此严重，所以也应该在清洗，擦拭等方面找一下原因。
    在用等厚干涉仪检平晶的时候，尽量不要用手直接接触平晶进行调整，如果要在平晶某一位置加压，可用竹镊子加压，确需用手接触平晶进行调整时，必须带手套，并尽量使接触平晶的时间缩短。调整干涉条纹为3或5条，可以用你讲的来回移动（类似于研合），也可以通过调整标准、被检平晶间的间隙角度来进行调整。JJG28-2000平晶规程对检定温度，平衡温度及温度变化规定是比较严格的。由于被检平晶是非金属体，热传导比较慢，局部受热会引起较大的局部变形，这些都是在检定工作中需要严格注意的。

回复 8# xqbljc
谢谢，
对我很有帮助~~