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[试卷] 万能量具理论考核试题

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发表于 2010-10-18 18:23:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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一、填空题(共20   每题2分)

1.阿贝(Aabe)原则是指测量轴线                  上,根据这一原则,判别外径千分尺是否符合?           

2.千分尺的测量下限调整至正确后,微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置离线不大于         或压线不大于         

3.杠杆千分尺分       级和         级。

4.通用卡尺检定规程规定,检定室内湿度不超出
RH

5.不论哪种量具,凡有平工作面的,均有平面度要求,那么平面度是指包容实际表面而且距离为最小的                   之间的距离。

6.深度千分尺是应用            传动原理将回转运动变为          的一种量具。

7.深度千分尺基座测量面的平面度不超过          ,用            以技术光波干涉法检定。

8.测量内尺寸量爪量面的圆弧半径样板以             测量,只允许样板

9.检定外径校对量规时,应对校对量规工作面上的五个点进行测量,两个测量面上                为校对量规的工作尺寸, 所测得的五个尺寸        中,                  为两工作面的平行度。

10.测微头的示值误差的测量,测微头紧锁装置应在             状态测量,引起的             应不超过2μm,并且示值误差均在允许范围内。

 楼主| 发表于 2010-10-18 18:25:16 | 显示全部楼层

万能量具理论考核试题2

二、选择题(共20  每题2分)

1.在测长机上检定内径千分尺的组合尺寸L时,必须使用V型架和工作台支撑内径千分尺,其支撑位置应处于离内径千分尺测量端面的距离a

1a=0.2113L
(2)a=0.2203L
(3)a=0.2232L

2.用平面平晶检定平面度时,用干涉条纹的弯曲量及干涉条纹的个数来计算平面度,其干涉原理是         

  1)球面干涉           2)等倾干涉            3)等厚干涉

3.对于使用中的千分尺的刻线宽度及宽度差         

(1)
在微分筒上任意抽检三条刻线

(2)
在刻线盘上任意抽检三条刻线

(3)
可以不检定

4.微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离不超过            

102μm
203μm
304μm

5.内测千分尺          阿贝原则。

  1)符合


2)不符合         3)在一定的条件下符合

6.千分尺的两工作面,如果其中一个面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平面平晶检定时,所需平行平晶块数           

  1)四块

2)一块              3)二块

7.为满足千分尺示值误差的检定,所用量块的准确度为         

  15等或2     24等或1     34等或1级和5等或2

slz12365 该用户已被删除
发表于 2013-1-23 14:16:35 | 显示全部楼层
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slz12365 该用户已被删除
发表于 2013-1-23 14:17:05 | 显示全部楼层
答案了。。。。。。。。。。
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