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[通用量具] 请教:用平面平晶检千分尺的平面度,怎么判断是否合格?

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发表于 2012-10-11 10:28:48 | 显示全部楼层 |阅读模式

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如干涉条纹平直,相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好;如干涉条纹弯曲,则表示平面度不好。其误差值为f= (v/ω)×(λ/2)

1. 因为实际操作的时候,也不方便测v及ω,那么怎么能得到误差值呢?

2. 平晶放在测量面上时,是紧贴好,还是有点倾斜的好,我操作起来,是一会有条纹,一会没有,条纹也是一会多、窄,一会少、宽。总觉得操作上不得要领。应该怎么操作是正确的呢??在什么现象认为条纹可以应用呢??


hblgs2004 该用户已被删除
发表于 2014-7-2 17:59:56 | 显示全部楼层
回复 17# ydq


    你的意思是长度单位了,谢谢!
发表于 2012-10-11 12:36:58 | 显示全部楼层
本帖最后由 星空漫步 于 2012-10-11 12:43 编辑

回复 1# 蓝猪


    1.  精确计量应该用单色光照明,并测量条纹参数;
    2.  应该是贴紧、平行为好!
 楼主| 发表于 2012-10-11 14:00:29 | 显示全部楼层
回复 2# 星空漫步
条纹参数怎么测得呢??
发表于 2012-10-11 17:25:05 | 显示全部楼层
用平面平晶测量千分尺测量面的平面度,目测即可。干涉条纹的弯曲度与条纹间距的比值是可以估读出来的,目测不能读出精确的值,是一个大概的值。观测时要调整平晶与千分尺工作面的位置,尽量使干涉条纹条数少,以利于读数。
发表于 2012-10-11 19:36:21 | 显示全部楼层
如果不把测砧拆下来,还真是只能目测个大概值。
发表于 2012-10-12 08:21:20 | 显示全部楼层
还是要学习,很多东西都没看懂!
 楼主| 发表于 2012-10-12 08:38:24 | 显示全部楼层
知道了,谢谢前辈们。
发表于 2012-10-16 20:56:50 | 显示全部楼层
感觉楼主和我刚刚用平晶是一样滴 当时我师傅给我找了一块废量块 让我反复在平晶上面研和 慢慢的就能研出稳定的干涉条纹了 还是要多练习
那个条纹我们一般是用眼睛估计一下的
发表于 2012-10-17 01:35:50 | 显示全部楼层
注意事项:
1.被测表面和平晶工作面要严格擦拭干净;
2.以单色光最好,日常测量中用自然光也可以。单色光干涉条纹是黑白相间,自然光干涉条纹是彩色的;
3.测量时,平晶工作面靠近被测表面某条边,逐渐向对边方向压下贴拢,注意干涉带条文变化,平晶上以出现3条干涉带时读数为佳;
4.干涉带中间远离一开始平晶与被测表面接触的边线,被测表面呈中间凸,反之被测表面中间凹;
5.凭眼力估读V和W,按计算公式计算被测表面平面度误差大小,出现完整的干涉环,应该数干涉环的环数,V/W以环数代入公式计算平面度误差。
发表于 2012-10-18 21:09:50 | 显示全部楼层
用平面平晶测量千分尺测量面的平面度,目测即可。干涉条纹的弯曲度与条纹间距的比值是可以估读出来的,目测不能读出精确的值,是一个大概的值。观测时要调整平晶与千分尺工作面的位置,尽量使干涉条纹条数少,以利于读数
龙仁 该用户已被删除
发表于 2012-10-21 13:22:45 | 显示全部楼层
用平晶以技术光波干涉法检定测量面平面度时,出现的干涉条纹,其干涉原理是等厚干涉。干涉条纹的形状一般有直线、圆形和弧形三种。直线形干涉条纹或没有条纹说明被检工作面非常平整。圆形干涉条纹说明被检工作面为球面,中凸或中凹点在工作面的中心,判断凹凸的方法是用手轻压平晶中央,如干涉条纹向内跑即为中凹,向外跑即为中凸。平面误差按干涉条纹的圈数n乘以半个光波波长λ/2计算。一般白光λ为0.6um。如圆形干涉条纹最外圈是对称的半圆形,则两条对称半圆形条纹按一圈计算。如只有一条不对称的半圆形条纹,也按一圈计算。如干涉条纹为平行的弧形条纹,则按通常的方法,取条纹弯曲量a与条纹间隔b的比值再乘以λ/2作为平面度误差值。判断平面的凹凸情况的方法为:将平晶先与测砧(zhen)边缘接触,再慢慢与平面贴合,如干涉条纹远离接触点的方向弯曲(条纹中间离接触点比两端远),则为凸面,相反为凹面。
hblgs2004 该用户已被删除
发表于 2014-6-20 16:41:38 | 显示全部楼层
如干涉条纹平直,相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好,此时想知道平面度误差是多少呢?如我检测千分尺平面度有10条以上的均匀平直的干涉条纹,此时记录平面度误差是0还是其它数值?
发表于 2014-6-21 10:58:23 | 显示全部楼层
回复 12# hblgs2004

  检测千分尺平面度有10条以上的均匀平直的干涉条纹时,因为干涉条纹过多不利于肉眼的分辨,轻微的干涉条纹弯曲无法识别。此时应调整平晶与被检工作面的接触状态,减少干涉条纹数量,以出现3条左右干涉条纹时估读条纹弯曲量与条纹间距的比值为最佳,如果仍然表现为干涉条纹呈相互平行的直线,就应该判定被检工作面平面度误差为0。
发表于 2014-6-21 12:59:11 | 显示全部楼层
本帖最后由 xqbljc 于 2014-6-21 13:11 编辑

回复 1# 蓝猪


    1.  用光波干涉法测平面度时,必须估读你谈及的v及ω(v为干涉带弯曲量,ω为干涉带间的间距),否则你无法代入你谈及的计算公式f= (v/ω)×(λ/2) ,以计算得出被测面的平面度;

    2.  平晶放在被测量面上时,应使平晶工作面与被测量面间有一个楔角,这样就不会出现你谈及的“是一会有条纹,一会没有,条纹也是一会多、窄,一会少、宽”了。另外,此测量过程的时间不宜过长,否则,手温对平晶的影响是很大的(必须戴手套),另外在测量时,尽量避免平晶在被测平面上反复接触移动,以免划伤平晶工作面。

   3.  某位帖子中所谈及的“以出现3条左右干涉条纹时估读条纹弯曲量与条纹间距的比值为最佳”,这是明显错误的说辞。这瞎讲一气的“左右”,必然包括了2条或4条,而正确的干涉条纹数量应为“3或5条”,也就是只能为3条或者5条(奇数),不可以有4条(不能描述为3~5条,或2条),以保证中间干涉条纹通过被测平面的最大直径,所以,测量过程的文字描述是非常严谨的,容不得某些人的信口开河。

   4.   被测平面平面度的凹凸评定,11楼谈论的是正确的,你可以慢慢理解、体会。

        个人看法,仅供参考。
发表于 2014-6-21 19:23:46 | 显示全部楼层
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干涉实例及条纹计算

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hblgs2004 该用户已被删除
发表于 2014-7-2 10:24:48 | 显示全部楼层
v为干涉带弯曲量,ω为干涉带间的间距,间距肯定是用长度单位,请问弯曲量是用长度单位还是弧度单位?
发表于 2014-7-2 14:26:06 | 显示全部楼层
回复 16# hblgs2004


    弯曲量是干涉带弯曲的程度,是瞄准其两个位置的估计量(或读数差),怎么会是弧度单位呢?
发表于 2023-12-5 10:27:29 | 显示全部楼层

请问一下这本是什么书名?,能否分享一下这张清晰图片,图片不清晰
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