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[通用量具] 高精度卡尺校准依据何规范?

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路云 发表于 2013-10-27 07:05:58 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 路云 于 2013-10-26 11:08 编辑

分辨力为0.001mm的“徽米数显卡尺”应依据什么规程/规范进行检定/校准?

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深圳渔民 发表于 2013-10-27 16:33:08 | 显示全部楼层
方法参照卡尺检定规程,合格判定依据出厂说明书,说明书没有给出的应预先和厂家确认技术指标。
 楼主| 路云 发表于 2013-10-28 06:26:48 | 显示全部楼层
回复 2# 深圳渔民
方法可以依据JJG30—2012,误差的判据也可以依据《使用说明书》。关键是有多项检定项目的技术要求是与分辨力有关的,无法确定。另外,有些检定项目的检定设备可能也达不到要求。
深圳渔民 发表于 2013-10-29 15:35:09 | 显示全部楼层
分辨力测起来不太容易,但搭个装置还是可以测的,比如,固定卡尺的主尺,用微分装置推卡尺的副尺。我们用过安一的千分卡尺,感觉还可以。
 楼主| 路云 发表于 2013-10-29 23:02:25 | 显示全部楼层
作为检定,用微分装置恐怕不合适,达不到量传的关系,充其量也只能是比对,作为验证确认的手段还马马乎乎。
深圳渔民 发表于 2013-10-31 12:28:11 | 显示全部楼层
工业计量器具做检定原本多余!
che-zp 发表于 2013-10-31 21:26:26 | 显示全部楼层
高精度卡尺只是生产或销售厂家的概念噱头而已,再怎么也是不符合阿贝原则的游标量具采用电子手段数字显示罢了
笨鸟还后飞 发表于 2013-11-1 09:36:54 | 显示全部楼层
工业计量器具做检定原本多余!
 楼主| 路云 发表于 2013-11-1 12:29:23 | 显示全部楼层
“工业计量器具做检定原本多余!”感觉此言是否太绝对了。既然要用到微米千分尺,我想一定是有测量方面的计量技术要求,即使不检定也应该校准吧!怎么能说是多余的呢?
吉利阿友 发表于 2013-11-1 12:39:38 | 显示全部楼层
回复 8# 笨鸟还后飞


    如果有兴趣,建议该位同仁去研究一下工业计量上的一些测量任务:是如何提出的、是如何实现的、是如何保证以及是如何验证的。。。
jgb170951net 发表于 2013-11-1 12:55:23 | 显示全部楼层
方法参考
JJG30—2012
判定根据仪器本身的技术规格
吉利阿友 发表于 2013-11-1 12:56:31 | 显示全部楼层
本帖最后由 吉利阿友 于 2013-11-1 12:58 编辑

回复 3# 路云


    路云同志,呵呵,我谈一下我的跑道了的看法。
    从量具配置造型的角度(GB3177:量具误差点尺寸公差四分之一至十分之一),结合一些管理文件的要求(比如说,MSA对量具分辨力的要求:量具分辨力为尺寸公差宽度的十分之一)。以上两点互相验证一下,可以发现:当量具本身的示值误差大到一定程度后,这个分辨力太过精细好像是没有实际意义。

    去年在仪器展会上也看到了这种分辨力极高的卡尺,确实比较令人吃惊呀:不知道是量具生产商创新意志超前还是我的科技意思太过落伍。。。。。愣是被“开眼界了”。。。

    当然,这个话题不错,也关注一下,期望学到新的知识。。。。。
 楼主| 路云 发表于 2013-11-1 23:05:03 | 显示全部楼层
回复 12# 吉利阿友

微分数显卡尺.jpg
Calipers.pdf (528.34 KB, 下载次数: 2)
规矩湾锦苑 发表于 2013-11-2 01:04:14 | 显示全部楼层
  我与阿友兄有相同的观点,即当量具本身的示值误差大到一定程度后,分辨力太过精细是没有实际意义。
  作为卡尺,其结构已经决定了不符合阿贝原则,决定了测量力控制机构的不足,加上游标弹簧片的使用将使量爪工作面与主尺基面垂直度不断变化,它的误差基本处在一个极限状态,虽然可以不断提高其显示装置的分辨力,但再想提高卡尺使用准确性已经是天方夜谭。
  这和千分尺有些相同,JJG21-2008适用于分度值0.01mm的模拟式千分尺和分辨力0.001mm、0.0001mm的数显千分尺检定,但表3规定并不因为分辨力提高到0.0001mm其示值允差就会比分辨力0.001mm的好,即便是分辨力0.0001mm数显千分尺与分度值0.01mm的千分尺相比,二者准确性之比也仅仅是2倍,并未达到100倍,仅此而已。
LHJ 发表于 2013-11-2 19:58:40 | 显示全部楼层
这样的高精度的卡尺好像没有什么实际意义,参考它的示值误差大小和使用要求考虑校准方法,不用过分在意分度值
 楼主| 路云 发表于 2013-11-2 22:33:12 | 显示全部楼层
回复 14# 规矩湾锦苑

从产品说明中可以看到,150mm的微米数显卡尺的测量精度可达±0.009mm,仍优于JJG30-2012通用卡尺检定规程所规定的最大允差(±0.03mm)的3倍,且还说了可用于更高精度要求的工件测量。


科学在不断地发展,技术也会随着需求的提高而提升。电脑不就是这样吗,升级得多快呀。也不排除那些技术领先的国家有这个制造技术和能力。

 楼主| 路云 发表于 2013-11-2 22:38:13 | 显示全部楼层
回复 15# LHJ
这样的高精度的卡尺好像没有什么实际意义,参考它的示值误差大小和使用要求考虑校准方法,不用过分在意分度值LHJ 发表于 2013-11-1 23:58


关键是:如果确实有这么高的使用要求的话,我们依据什么来对它进行检定或校准。
规矩湾锦苑 发表于 2013-11-3 00:44:55 | 显示全部楼层
回复 16# 路云

  卖瓜的说瓜甜,商家总是会说自己的产品优秀,只有在没有检定规程和校准规范的情况下才能够依照商家的产品说明书校准。当有检定规程或校准规范时仍然应该按规范要求检定/校准。
  我认为这种卡尺仅仅是提高了分辨力。无论分辨力提高到多高,哪怕是0.00001mm,意义都不大。因为卡尺的结构已经决定了其示值误差的提高极限,一个较大的分量与分辨力引入的非常小的分量合成,非常小的分量忽略不计,合成的不确定度将仍然和较大的那个分量一样大。如果要真正大幅度提高卡尺的准确度,除非彻底改造其结构,当然彻底改造结构后的卡尺也就不叫卡尺了。
hblgs2004 发表于 2013-11-4 07:54:34 | 显示全部楼层
没用过这么高精度的卡尺,第三位能稳定吗?重复性可以吗?
吉利阿友 发表于 2013-11-5 08:08:56 | 显示全部楼层
回复 17# 路云


    能不能针对实际情况,编制一份受认可的技术文件呢,比如说,*****自校规范   什么的。
guohaihong 发表于 2013-11-6 13:24:52 | 显示全部楼层
我觉得可以 参照 JJF 1254-2010数显测高仪校准规范
分辨力为1μm所对应的技术要求:示值最大允许误差:±(5μm+10-5L/3)
jiutianwuyin 发表于 2013-11-7 07:58:57 | 显示全部楼层
回复 6# 深圳渔民


   工业计量器具做检定是多余,但需要校准
jiutianwuyin 发表于 2013-11-7 08:00:25 | 显示全部楼层
回复 20# 吉利阿友


   是可以参照卡尺的检定规程,自行编制校准规范。
yanxunxiong 发表于 2013-11-7 11:18:27 | 显示全部楼层
这种卡尺没经过验证就生产出来,多一位数字只能参考,不确实际的。
深圳渔民 发表于 2013-11-7 11:31:23 | 显示全部楼层
回复 18# 规矩湾锦苑


    根据什么说是天方夜谭呢?假如你没有验证过,就不要轻易说NO。我可以负责任的告诉你,我用过的数显千分卡尺的示值误差和重复性是可以满足出厂要求的。不符合阿贝的测量仪器多了,他只是影响精度的一个因素,就说卡尺,严控几何误差是可以提高精度的,就看你花多少成本改进工艺了。
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