基于激光干涉仪与自准直仪的平面镜轮廓高精度测量技术

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作　　者：杨平[1] 朱睿[1] 郭隐彪[1] 高增潔[2]
机构地区：[1]厦门大学物理与机电工程学院,厦门361005 [2]东京大学精密工学系东京1138656,日本
摘　　要：基于三组激光干涉光路与一台自准直仪的光学扫描检测方法,开发可用于大尺寸平面镜二维轮廓的高精度测量技术。通过联立线性方程式与最小二乘法结合的计算算法,可得到平面镜二维轮廓的测量结果及整个测量过程的不确定度值。利用建模仿真整个测量过程,分析不同采样点数N下不确定度数值的变化趋势。此外,搭建基于高精度三坐标测量仪平台上的光学检测系统,试验果表明该技术成功实现对100 mm平面镜二维轮廓的测量,并可实现重复性测量精度在±20 nm范围内。通过与Zygo白光干涉系统结果的比较,该检测技术可以实现纳米级别的测量精度。