万能角度尺检定结果的不确定度评定

长度室 发表于 2015-1-21 09:28
我又想了想，测量能力指数Mcp＝T/(2U)，对于允差是对称的情况，测量能力指数就是我们平时说的U/MPEV的倒 ...

　　你的计算错误，呵呵。应该说：测量能力指数Mcp＝T/(2U)，如果允差MPE是对称的，测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍。要求U/MPEV≤1/3，也就等同于要求Mcp≥1.5而不是你说的≥3。一定要注意MPEV＝T/2，而非MPEV＝T，T是公差带宽度，是全宽，MPEV允差对称于０时的绝对值，是半宽。MPE不对称于0时必须使用上极限（最大允许误差）减去下极限（最小允许误差）得到全宽后再除以2，例如表面粗糙度样块的允差就不对称，不能直接使用MPEV。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-21 10:23
　　你的计算错误，呵呵。应该说：测量能力指数Mcp＝T/(2U)，如果允差MPE是对称的，测量能力指数就是U/MP ...

“测量能力指数Mcp＝T/(2U)，如果允差MPE是对称的，测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍。”这是怎么计算的呢？咱再缕一缕啊。对于允差对称的情况：Mcp＝T/(2U)=2MPEV/（2U）=MPEV/U，难道不是U/MPEV的倒数？怎么来的就是U/MPEV的倒数的两倍呢？

长度室 发表于 2015-1-21 11:55
“测量能力指数Mcp＝T/(2U)，如果允差MPE是对称的，测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍。”这是怎么计算 ...

　　呵呵，你没有把是1.5还是3带进去啊，你把具体数据1.5或3带进去试一试就知道了。Mcp＝T/(2U)，和k=U/MPEV，后者倒过来1/k=MPEV/U，k与Mcp互为倒数，你发现T/(2U)和MPEV/U分母中多个2了吗？所以我叫你具体带数字计算，看看得到的是1.5还是3，你就明白我说的２倍来历了。

长度室 发表于 2015-1-21 09:29
我记不清楚以前讨论的结果如何了，但是我想问：评定示值的不确定度就可以不考虑被测仪器分辨力的分量了么 ...

　　刚刚看到你25楼的问题，为什么“评定示值的不确定度就可以不考虑被测仪器分辨力的分量”？我还没有回答，现在回复如下：
　　测量不确定度评定要考虑的标准不确定度分量个数完全依据测量模型中的输入量，不能多也不能少，做到“既不能重复也不能遗漏”是一个原则，不能违背。评定示值的不确定度是否考虑被测仪器分辨力引入的的分量，就要看测量模型输入量中有没有需要从被检仪器上读的数。评定示值的不确定度，示值是被测量，示值也就是输出量，不是输入量。仪器分辨力在输出量的读数中，输入量毫无被检仪器的踪影，怎可无缘无故地在不确定度分量中增加一个毫无关系的分量呢？检定示值误差，“示值误差”是输出量，定义是仪器示值减去标准值，“仪器示值”变成了输入量，当然就必须考虑“仪器示值”读数时引入的不确定度分量。
　　“每点测3次，取平均值作为测量点的测得值”与读一次数得出测得值是不同的测量方法，测量方法是决定正确书写测量模型的关键。次数3就是实际规定的测量次数N，一定要与重复性实验次数n（一般取10）相区别。在经重复性实验得到实验标准差s后必须除以√N（注意不是重复性实验次数n）才能得到不确定度分量，对于用平均值作为测量结果来说，其它方法得到的不确定度分量同样也要除以√N。如果其它检定规程在给出不确定度评定结果时，测量结果如果规定必须做N次测量取平均值，而不确定度却没有除以√N，的确就是一个疏漏，这种评定往往把不确定度评大了。不确定度评定报告的最后一步必须给出评判结论，往往这样的检定规程自己不敢说本检定规程规定的检定方法是否满足开展检定项目的要求，因此其不确定度评定报告都缺乏评判结论这一条。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-21 12:50
　　呵呵，你没有把是1.5还是3带进去啊，你把具体数据1.5或3带进去试一试就知道了。Mcp＝T/(2U)，和k=U/M ...

您这是在想说明什么呢？还是没说明“测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍”是怎么来的啊。您看一下自己说的是矛盾不：k=U/MPEV，k与Mcp互为倒数，这不是U/MPEV与Mcp互为倒数么？前面又说Mcp就是U/MPEV的倒数的两倍，这到底是倒数关系，还是倒数的两倍呢？“你发现T/(2U)和MPEV/U分母中多个2了吗”，分母中是多了个2，但分子还是2倍的关系呢。
您绕不过弯来，那就带一下数字看看。通常要求U/MPEV=1/3，Mcp＝T/(2U)=2MPEV/(2U)=MPEV/U=3。我算不出来1.5是怎么来的，您给计算一下。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-21 15:18
　　刚刚看到你25楼的问题，为什么“评定示值的不确定度就可以不考虑被测仪器分辨力的分量”？我还没有回 ...

我想起来了，以前在这个问题上没和您观点一致，现在也是。“评定示值的不确定度，示值是被测量，示值也就是输出量，不是输入量。仪器分辨力在输出量的读数中，输入量毫无被检仪器的踪影。”怎么就没有被检仪器分辨力的踪影？本身在被检仪器上读数，被检仪器的分辨力会没有关系么？现有一测量，用分辨力0.01mm的数显卡尺测量1.005mm的量块，您测得是1.00mm，也有可能会测得1.01mm。您给出示值的不确定度，会不考虑数显卡尺分辨力的影响么？
“对于用平均值作为测量结果来说，其它方法得到的不确定度分量同样也要除以√N”，有道理吗？我所见到的评定都是计算测量重复性时除以根号n（实际测量次数）的，在JJF1059.1上也没有说分辨力分量要除以根号n（实际测量次数）的。您认为用平均值作为测量结果时其它方法得到的不确定度分量同样也要除以√N，那么我想问，对于在标准器上进行读数的，要求测量n次以平均值作为测量结果，那么标准器的示值误差分量也要除以根号下测量次数么？

长度室 发表于 2015-1-21 16:25
您这是在想说明什么呢？还是没说明“测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍”是怎么来的啊。您看一下自己说 ...

　　我说的“k与Mcp互为倒数”还有个“两倍”，在26楼我说“测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍”，因此我一直在强调这个2倍关系，一直在建议你带数字对两个公式进行对比，我也一直在告诉你原国家计量局推荐的是Mcp≥1.5，你如果用k=U/MPE推导一定会得出Mcp≥3，把测量能力指数翻一番，所以你在30楼得到“要求U/MPEV=1/3，Mcp＝T/(2U)=2MPEV/(2U)=MPEV/U=3”是理所当然的了。我一直在说1/3原则指的是U/T≤1/3，倒过来就是T/U≥3，Mcp＝T/(2U)＝(T/U)/2＝3/2＝1.5，这就是Mcp≥1.5的来历，无非是检定活动的风险大于一般测量工作，在1/3原则中的1/3～1/10中选择了1/6，因此才推导出U/MPEV≤1/3的判别式，因为1/3是1/6的两倍，这就是关于“两倍”的来龙去脉。

长度室 发表于 2015-1-21 17:05
我想起来了，以前在这个问题上没和您观点一致，现在也是。“评定示值的不确定度，示值是被测量，示值也就 ...

　　示值是被测量，示值也就是输出量，检定时在被检仪器上读数，读的是“输出量”而不是“输入量”，被检仪器的分辨力影响所影响的也是“输出量”，在“输入量”中没有它的踪影，此时考虑其给“示值”检定结果引入的不确定度分量就是无缘无故地添加了分量，这就叫违反了“既不重复也不遗漏”的原则。
　　你所见到的评定都是计算测量重复性时除以根号n，这个n往往都是重复试验次数，这是当前有关不确定度评定出版物的严重不足，绝大多数案例都把重复试验次数n当成了实际测量次数N，这也是史锦顺老先生之所以作为批判不确定度A类评定千遍一律除以根号n的一个证据，我认为这是不确定度评定者的疏忽，而不能算在不确定度评定方法规定的身上。通过重复试验n次得到了实验标准差s，这个s就应该永久性存档，当使用该方法实施测量时，规程、规范或标准规定必须测量N次取平均值作为测量结果时，就不必再进行重复性实验了，从档案中查得s除以根号N就可以得到该不确定度分量。如果“对于在标准器上进行读数的，要求测量n次以平均值作为测量结果”，那么标准器的示值误差引入的不确定度分量的确也要除以根号n。这也是由测量模型所决定的。关于这一点JJF1059.1是说清楚了的，请你仔细阅读一下其4.3.2.2～4.3.2.6条，特别是4.3.2.5和4.3.2.6，其中的n′就是我说的N，n′与n是有区别的，n是重复试验次数，n′是以平均值获得测量结果的实际测量次数。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-22 00:26
　　我说的“k与Mcp互为倒数”还有个“两倍”，在26楼我说“测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍”，因此 ...

有时候跟您探讨问题就是让人感到着急、恼火。我想这就是论坛里有些老师在跟您的争论中说出过激语言的原因。您说过自己认为是正确的东西会据理力争，直到证明自己是错误的，这实际是好的性格。但您的一大不足之处就是探讨中过于注重防卫，即使自己是错误的也要进行辩解。我是个年轻人，尊重各位老师，不会说过激语言。但我也是直性子，看到错误我要指出，自己错了，我会承认，那也是一个进步的机会。
回到帖子上来，再看看您这次做的辩解。“我一直在说1/3原则指的是U/T≤1/3，倒过来就是T/U≥3，Mcp＝T/(2U)＝(T/U)/2＝3/2＝1.5，这就是Mcp≥1.5的来历，无非是检定活动的风险大于一般测量工作，在1/3原则中的1/3～1/10中选择了1/6，因此才推导出U/MPEV≤1/3的判别式，因为1/3是1/6的两倍，这就是关于“两倍”的来龙去脉。”这个我清楚，以前听您说过，不用再解释了。可您再看看我在25楼的原话吧：测量能力指数Mcp＝T/(2U)，对于允差是对称的情况，测量能力指数就是我们平时说的U/MPEV的倒数。我这里说的是U/MPEV，没有说U/T，我知道MPEV＝T/2，而非MPEV＝T，T是公差带宽度，是全宽，MPEV允差对称于０时的绝对值，是半宽。因此才得出Mcp与U/MPEV互为倒数的结论。而您26楼得出“你的计算错误，呵呵。应该说：测量能力指数Mcp＝T/(2U)，如果允差MPE是对称的，测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍。要求U/MPEV≤1/3，也就等同于要求Mcp≥1.5而不是你说的≥3。”首先，您难道是想说U/T倒数的两倍，而误写成了U/MPEV？其次，即使是想说U/T，那也应该是：测量能力指数就是U/T的倒数的二分之一，不可能是两倍。您自己32楼的式子Mcp＝T/(2U)＝(T/U)/2已经表达的很清晰了。再有，您26楼的“U/MPEV≤1/3，也就等同于要求Mcp≥1.5而不是你说的≥3。”而在32楼说“U/MPEV=1/3，Mcp＝T/(2U)=2MPEV/(2U)=MPEV/U=3”是理所当然”，我怎么感觉这么矛盾呢，如果后一句是理所当然，那前一句的Mcp≥1.5而不是你说的≥3也是正确的么？两个的前提都是U/MPEV=1/3，结论就不一样。而您在32楼计算Mcp值1.5过程中给偷换了概念，把26楼您自己说的“要求U/MPEV≤1/3，也就等同于要求Mcp≥1.5”中U/MPEV偷换成了U/T，加以辩解“我一直在说1/3原则指的是U/T≤1/3”。我之前说的是U/MPEV，哪里说U/T了。为什么您不在前面是说1/3原则指的是U/T≤1/3，测量能力指数就是U/T的倒数的两倍（实际是1/2）。即使您说U/T=1/3，那么我的U/MPEV就=1/1.5，Mcp值是1.5，也还是：测量能力指数就是U/MPEV的倒数，不会是您说的测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍。当然，再退一步，您最后把“测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍”的两倍的来龙去脉辩解为“检定活动的风险大于一般测量工作，在1/3原则中的1/3～1/10中选择了1/6，因此才推导出U/MPEV≤1/3的判别式，因为1/3是1/6的两倍”，这我就无话可说了。
我啰嗦了这么多，就是想对您说，认识错误是一种进步，再对再错没有人会说什么，对错误一味进行辩解是态度的不端正。如果您不听劝，就继续坚持测量能力指数就是U/MPEV的倒数的两倍吧。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-22 00:44
　　示值是被测量，示值也就是输出量，检定时在被检仪器上读数，读的是“输出量”而不是“输入量”，被检 ...

关于您从输入量角度考虑的建议，我需要再考虑一下。举个简单的例子，用数显卡尺测量量块，评定卡尺示值的不确定度，您认为输入量有哪些呢？在量块与卡尺线胀系数差、温度差引入分量可忽略不计的情况下，输入量仅是量块不确定度引入的分量么？如果在卡尺上读数，读数是输出量，可以认为测量重复性也不应参与进评定么？
关于计算重复性时除以根号n的问题，抱歉，是我使用符号不明确（您看，承认错误很简单），我说的“我所见到的评定都是计算测量重复性时除以根号n”这里的n就是您说的N，不是做重复性试验时的测量次数，而是校准、检定时的实际测量次数。其实我在n后面加了（实际测量次数）了。因此，您不能得出“这是当前有关不确定度评定出版物的严重不足，绝大多数案例都把重复试验次数n当成了实际测量次数N”的结论，他们都是分清了重复性试验是的测量次数与实际校准时的测量次数的。在我的印象中，史锦顺老师批判不确定度A类评定千遍一律除以根号n的原因可不是分不清重复试验次数和实际测量次数，而是出于重复性与均匀性的原因。即每一次测量不在同一个位置，已经不再是重复性测量了，不是除错了n，而是不应该除以n的问题。您可以再看一下史老师的帖子，核实一下。你说标准器的示值误差引入的不确定度分量的确也要除以根号n，实话实说，这是我没有见到过的。您说的JJF1059.1的4.3.2.2～4.3.2.6条，特别是4.3.2.5和4.3.2.6，我又看了一下，这讲的都是A类评定方法的重复性分量的评定，没有涉及到用B类评定方法评定的分辨力、标准器示值误差分量是否应该除以根号下实际测量次数的问题。因此说，您的观点（取N次测量算数平均值作为测量结果时，分辨力、标准器示值误差分量也应该除以根号下实际测量次数N）缺乏依据。

长度室 发表于 2015-1-23 09:36
有时候跟您探讨问题就是让人感到着急、恼火。我想这就是论坛里有些老师在跟您的争论中说出过激语言的原因 ...

　　正如你说，自己认为是正确的东西我会据理力争，直到证明自己是错误的，因此我也喜欢直来直去地端出自己的观点的朋友，包括年长的史老先生和年轻的你，哪怕言辞过激点都没有关系，对不同观点的讽刺挖苦和谩骂我是坚决反对的，尽管我可以保持不主动还口，但也绝不是对讽刺挖苦和谩骂无动于衷的，因为讽刺挖苦和谩骂不是正常激烈讨论的做法，污染了论坛这片净土的语言环境。
　　现在看来，你楼上所说的确是我的不是。正确的说法是，测量能力指数Mcp=T/(2U)＝(2MPEV)/(2U)＝MPEV/U，“测量能力指数就是我们平时说的U/MPEV的倒数”这个论断是正确的。但1/3原则是U/T≤1/3不是U/MPEV≤1/3，因为U/T＝U/(2MPEV)＝(U/MPEV)/2=(1/3)/2＝1/6。我的目的是想说U/T和U/MPEV相互之间存在着2倍和1/2的关系，不能认为U/MPEV≤1/3就是常说的1/3原则，U/T≤1/3才是“放之四海”而皆准的1/3原则。U/MPEV≤1/3实际上是选择了1/3原则常常选择的比值范围1/3～1/10中的1/6，因此这个判别式仅仅是1/3原则在计量检定/校准领域中的具体应用，不适用于所有的测量领域，否则推导出的测量能力也将是Mcp≥3，而不是Mcp≥1.5。
　　因此，感谢你“啰嗦”得真诚，是我没有领会你的意思，也是我表达的错误，对于以前给你的回复全数收回。我想，上面这段话的观点我们应该可以达到一致，对原国家计量局要求的一般精度的检验与监控基本满足要求的条件是Mcp≥1.5的推导过程也应该是没有问题的。

长度室 发表于 2015-1-23 09:36
关于您从输入量角度考虑的建议，我需要再考虑一下。举个简单的例子，用数显卡尺测量量块，评定卡尺示值的 ...

　　我必须说明白，卡尺不检示值而只检示值误差。如果检定卡尺示值，量块输入的标准值就是卡尺该受检点的值，将这个标准值赋予卡尺示值即可，因此主要考虑计量标准（量块）引入的分量和环境条件引入的分量就差不多了；如果检定示值误差，是被检卡尺示值与标准值之差，则测量模型中将增加一个输入量被检卡尺的读数，数显卡尺的分辨力将给示值误差检定结果引入不确定度分量。
　　关于重复试验次数n和实际要求的测量次数N，的确也是当前最容易混淆和常见的混淆不清的一个问题，所以史老师一直在批评A类评定一律除以根号n并不是完全没有根据，大量的不确定度评定案例出版物都没有明确指出而将实际测量次数与重复试验次数选择了相等，势必给一些人，特别是新手造成了n是同一个n的误解。不确定度是不分A类B类的，分的是评定方法，无论用什么方法评定的分量，都与该分量的来源密切相关，分量的来源的输入量是测量一次得到就勿需除以根号N，因为N=1，除以根号1没有丝毫作用，分量来源输入量是N次测量取平均值得到，就应该除以根号N。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-23 16:31
　　正如你说，自己认为是正确的东西我会据理力争，直到证明自己是错误的，因此我也喜欢直来直去地端出自 ...

以前不止一次听您介绍测量能力指数Mcp值，可在这之前，对于它的计算公式T/（2U）记得并不是那么清晰，通过这次讨论，我想我应该会记住了，讨论会让人记忆深刻，在这里也谢谢您。
对于原国家计量局要求的一般精度的检验与监控基本满足要求的条件是Mcp≥1.5的推导过程我也清楚了，可能U/T≤1/3才是“放之四海”而皆准的1/3原则，但是作为计量工作者，还得用这个判别式仅仅是1/3原则在计量检定/校准领域中的具体应用，即U/MPEV≤1/3，毕竟JJF 1094-2002 测量仪器特性评定这个技术规范的要求在那摆着了，我们应该遵守。

规矩湾锦苑 发表于 2015-1-23 16:51
　　我必须说明白，卡尺不检示值而只检示值误差。如果检定卡尺示值，量块输入的标准值就是卡尺该受检点的 ...

我知道卡尺规程对于卡尺的计量要求是示值误差，我是打个比方，假如是给卡尺示值结果评定不确定度。毕竟示值再减去量块的标准值就是示值误差了。如果是从输入量、输出量的角度分析不确定度分量，我感觉您说的“如果检定卡尺示值，量块输入的标准值就是卡尺该受检点的值，将这个标准值赋予卡尺示值即可，因此主要考虑计量标准（量块）引入的分量和环境条件引入的分量就差不多了”好像不妥。咱们可以把测量模型写一下，对于示值误差，测量模型为：示值误差=卡尺读数-量块尺寸；我认为对于示值的测量模型应该为：示值=卡尺读数。因此，跟卡尺读数有关的测量重复性、卡尺分辨力依然是影响分量，而貌似看不到量块尺寸的踪影。但卡尺的示值反应的是量块的尺寸，因此量块尺寸必定对卡尺示值有影响。因此，我认为对于卡尺，示值误差的不确定度和示值的不确定度是一样的。另外，您看一下JJF 1175-2007 试验筛校准规范的附录里的不确定度评定，对于它的测量模型δ=d，您从输入量的角度分析，应该分析哪些影响分量呢。
关于重复试验次数n和实际要求的测量次数N，我跟您说过了，史老师批判的是他所讲的“统计测量”的重复性不应除以根号下N（实际测量次数），而不是应该除以根号下重复试验次数n还是除以根号下实际要求的测量次数N的问题。即不是应该除以哪个的问题，而是不应该除。这个您可以再看一下他的帖子。“不确定度是不分A类B类的，分的是评定方法”，这个没有疑问，最初发布JJF 1059.1-2012 后，还发布了一个修正页，您也看到过，说过“洋洋洒洒的写了5、6页”，那上面特意做了修正，把B类不确定度评定方法更改为不确定度的B类评定方法。但这个问题您还没有说到重点上，A类评定方法是用统计分析的方法进行评定，B类评定方法是用经验信息进行评定，即a/k，其中，a查得，k根据估计的分布确定。您认为实际测量次数N应该是用于统计分析方法呢，还是用于经验信息分析方法呢？JJF 1059.1-2012 A类评定方法里有s/根号n（实际测量次数）。分辨力分量、标准器示值误差分量都是用B类评定方法来进行评定的，您看到过JJF 1059.1-2012 B类评定方法里出现过a/k/根号n（实际测量次数）么？

长度室 发表于 2015-1-26 11:59
我知道卡尺规程对于卡尺的计量要求是示值误差，我是打个比方，假如是给卡尺示值结果评定不确定度。毕竟示 ...

　　对于示值误差，测量模型为：示值误差=卡尺读数－量块尺寸，是用卡尺读数与量块尺寸比对检定示值误差，这是正确的。对于示值的测量模型应该为：示值=卡尺读数就错了，不能用被检卡尺的读数去检被检卡尺的示值，卡尺读数就是卡尺示值，用自己的示值检自己的示值说不过去。对示值的检定实际上是把计量标准的值赋予示值，即：示值=量块尺寸。无论示值指示值是多大，在哪里，量块的尺寸是10mm，哪怕卡尺指示（读数）为80mm，卡尺的80mm的示值就被赋予了10mm的值，至于70mm的差不是示值，而是示值误差。示值检定或校准，测量模型是“示值=量块尺寸”，示值或称读数是被检对象，是输出量，量块尺寸是唯一输入量。　示值误差测量模型为“示值误差=卡尺读数－量块尺寸”，示值误差是被测量，是输出量，输入量有两个，分别是“卡尺读数”和“量块尺寸”，与示值检定测量模型完全不同，不确定度评定也就完全不同。
　　JJF 1175-2007 试验筛校准规范，孔径测量模型δ=d，规范附录A的不确定度评定是有问题的。孔径有最大和最小直径的校准要求和平均直径的校准要求。对最大和最小直径的校准，d是万工显两次读数相减，没有重复性引入的不确定度分量，反而是d2、d3、d4三个分量合成后再乘以根号2。对平均直径的校准，规范规定要测量10个孔径取平均值，这就必须考虑重复性引入的不确定度分量，但平均值的不确定度必须除以根号测量次数，规范附录A没有除以根号10也是错误的。
　　我认为史老师他老人家反对的是不问青红皂白一律除以根号n，史老师说的意思还是由他来人家自己说吧，我们就不猜测了。把B类不确定度更改为不确定度的B类评定方法，A类评定方法是用统计分析的方法进行的，B类评定方法是用经验信息进行的，即a/k，其中，a查得，k根据估计的分布确，在这方面我认为我们观点一致。对于实际测量次数N，它只是个规定次数，不是重复性实验次数，不应该考虑它是不是用于统计分析方法。重复试验次数n必须用于统计分析中，实际测量次数N不用于统计分析方法中，直接用统计分析得到的S除以根号N就行了，没有什么更多的考虑。你已经看到了JJF 1059.1-2012 A类评定方法里有s/根号n（实际测量次数），道理与其完全相同，B类评定的对象如果也是n次测量的平均值，该平均值为测量结果的不确定度同样要除以根号n；如果是测量了n次相加减得到的测量结果，其不确定度就应该乘以根号n，例如两次测量结果相减得到直径测量结果，直径的不确定度就应该是两个相同的不确定度分量平方和再开方（即乘以根号2）；如果就是通过一次测量得到的，也就不存在根号n的问题。

长度室 发表于 2015-1-26 11:59
以前不止一次听您介绍测量能力指数Mcp值，可在这之前，对于它的计算公式T/（2U）记得并不是那么清晰，通 ...

　　是的，U/T≤1/3才是“放之四海”而皆准的1/3原则，Mcp值也算是个佐证。但作为计量工作者，还得用1/3原则在计量检定/校准领域中的具体应用，即U/MPEV≤1/3，也就是U/T≤1/6。1/6仍然介于通常1/3原则的取值范围1/3～1/10之内，1/6的选择既考虑了检定/校准工作的误差风险，也考虑了检定/校准工作的经济性，是恰当的。但U/MPEV≤1/3也不是绝对的，只是一般规定，仍有不少检定规程和校准规范并不是采用U/MPEV≤1/3，采用U/MPEV≤1/2和U/MPEV≤1/4的也是有的，用1/3原则通用表达式就分别是U/T≤1/4和U/T≤1/8。
　　以上这个问题在几何量计量不确定度评定中尤其要注意，JJF1130-2005《几何量测量设备校准中的不确定度评定指南》并不要求写出测量模型，但一开头就提出了“目标不确定度”的问题，目标不确定度一定要根据标准、规程、规范对1/3原则的应用规定，千万不能千遍一律将被检仪器的允差除以3，千遍一律除以3有可能很好的检定方案被判定为无法满足检定要求。

请问角度300度20分用角度块怎么拼

cjh816 发表于 2015-2-6 14:01
请问角度300度20分用角度块怎么拼

要看你配置的角度块是多少块一组的，以及角度块的角度“尺寸间隔”是怎样的。

感谢分享，楼主强大