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[超低频] 《半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范》征求意...

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发表于 2017-10-24 09:01:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本规范按照JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》编制,JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》 共同构成支撑校准规范修订工作的基础性系列规范。
JJG 725-1991《晶体管直流和低频参数测试仪检定规程》相比,除编辑性修改外,本规范主要修订内容有:
——修改规范名称为半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范。
——增加了引言部分。
——增加了有关名词术语(见3)。
——修订了计量特性(见5)。
——修订了校准用标准器及其他设备(见6.2)。
——重新编制了校准项目及校准方法(见7)。
——去掉了附录1各种型号被检仪器的主要技术指标。
——修改了校准证书内容(见附录A)。
——修改了原始记录格式(见附录B)。
——补充了测量不确定度评定的示例(见附录C)。
历次版本情况:
本规范是对JJG 725-1991的修订。

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