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[几何量仪器] 用CCD技术的工具显微镜

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高子豪 发表于 2009-2-15 09:24:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
请教专家,用CCD技术的工具显微镜如何检定?能否用标准刻线尺直接检定?这种显微镜最高精度能到什么水平?
规矩湾锦苑 发表于 2009-2-15 17:59:58 | 显示全部楼层
我认为不管他是使用什么技术的万工显,只要还是万能工具显微镜,就可以用标准刻线尺直接检定其示值误差。
YXQ 发表于 2009-2-15 18:35:33 | 显示全部楼层
用到CCD技术的万能工具显微镜,仅仅是把所看到的图象通过CCD接收,然后传输到微机,用图象重建系统软件处理后成像。CCD即图象接收部分,至于精度或分辨力多高,取决于CCD像素,像素越大像元越小分辨力越高,能看到的细节越多,精度相对也高。这与是否用标准刻线尺无关,该怎么检就怎么检。有CCD技术的万能工具显微镜仅在测试数据后处理上提供许多方便,工作效率高,除此之外的其他应该都一样。
规矩湾锦苑 发表于 2009-2-15 20:54:58 | 显示全部楼层

回复 3# YXQ 的帖子

3楼说的非常明白了,完全同意“有CCD技术的万能工具显微镜仅在测试数据后处理上提供许多方便,工作效率高,除此之外的其他应该都一样”,“与是否用标准刻线尺无关,该怎么检就怎么检”的说法。按JJG56-2000《工具显微镜检定规程》检定没有错,呵呵。
 楼主| 高子豪 发表于 2009-2-17 18:16:52 | 显示全部楼层
能不能请教一下,它的极限误差是多少呢?
萧扬 发表于 2009-6-1 17:31:56 | 显示全部楼层
JJG56-2000《工具显微镜检定规程》中有具体指标。
pdmq 发表于 2009-6-3 20:16:37 | 显示全部楼层
用二等玻璃线纹尺检定。
有CCD技术的万能工具显微镜仅在测试数据后处理上提供许多方便,工作效率高,除此之外还带入了2项误差:1.CCD的颗粒大小。
2.显示器的像素大小
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