直接电位分析法的定位校准和斜率校准

黄淑英[1] 林竹光[2] 等
[1]厦门市卫生防疫站，厦门361004 [2]厦门大学化学系，现代分析科学教育部重点实验室，厦门361005
摘　要:本文阐述了直接电位分析法定位和斜率校准的理论与测量原理。Eemf^-pM标准曲线法不必考虑定位和斜率校准问题；单点定位pMx直读法，只进行定位校准，没有完全校正电极理论与实际斜率不一致所产生的测量误差，双点定位pMx直读法在pMs1-pMs2之间同时进行定位与斜率校准，测量的相对误差较小。