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[光谱/光度] 关于光度计杂散光检定与vandyke说

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发表于 2009-11-20 06:23:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 vandyke 于 2009-11-20 18:48 编辑

vandyke:如果真是象abdong说的那样:“杂散光形成挺复杂的。在360 nm处没杂散光不代表420处没有,因为里面的滤光片组切换会将不同波段的光滤掉。”我也觉得有些道理,最起码是光栅型的在改变波长时,有可能存在滤光片组切换;好象棱镜的不存在该问题。那么作为我们的规程:对于光栅的,只检360纳米处的杂散光就是不对的!你说呢?
发表于 2009-11-22 23:03:17 | 显示全部楼层
规程从始至终对于杂散光的测量都语焉不详,并且自相矛盾。
它说对于A段,用亚硝酸钠或截止滤光片于360nm处(钨灯)测量。这与它对波长分段的定义(A段为190nm~340nm)相矛盾。
它又说B段棱镜式仪器用截止滤光片再420nm出测量,却不说B段光栅型仪器用什么方法测量。了解旧规程的人都知道光栅在360nm出测量,新入行的人怎么会知道?况且规程还说360处的杂散光测的是A段的。让人莫名其妙。
杂散光的测量有时间在讨论
 楼主| 发表于 2009-11-23 06:12:42 | 显示全部楼层
本帖最后由 刘彦刚 于 2009-11-23 06:26 编辑

2# vandyke
谢谢回复!请你看一下《中国计量》刚出版的第十一期朱琳等的《影响分光光度计测量准确度的原因》!虽然文章条理不是很清楚,但文中提到的如下两问题很希你赐教!
1、“例如:751型分光光度计,……,当狭缝宽度增大时存在一些像差,……”。其中“像差”是怎样一种误差?
2、“透射比是分光光度计的一项综合技术指标,……及入射光的偏振状态等也都会引起透射比的随机变化,……”。其中“入射光的偏振状态”由何而来?又是怎样引起透射比变化的?
发表于 2009-11-28 00:01:39 | 显示全部楼层
像差是指实际光学系统与理想(近轴)光学系统所成的像之间的偏离。一般都是指透镜系统。像差分为单色像差和色(像)差。单色像差又分为:球差、彗差、像散、场曲和畸变。色差又分为:位置色差和倍率色差。狭缝其实是一个光阑,能限制光束孔径和成像范围,光阑适当缩小时,能阻挡杂散光和其他对成像不利的光线(如与透镜主轴成角太大的光线),这样就能改善成像质量。因此,狭缝并非单独影响像差,而是配合了分光光度计中的透镜系统,起到改善光谱成像的作用。其实归根结底,我觉得即使不用成像的理论,也可以用杂散光来代替像差解释,因为各种像差都可以当做杂散光来看待。
 楼主| 发表于 2009-11-28 06:38:50 | 显示全部楼层
本帖最后由 刘彦刚 于 2009-11-28 06:41 编辑

vandyke
      我前天有幸电话联系到了叶军安老师,得到了叶老师的指教:像差,差不多是光谱带宽的另一种说法。狭缝越宽,光谱带宽越宽,自然光的单色性就越差,也称为像差。
      而偏振状态问题,毕竟更复杂,电话里也不好表达,叶老师当时在电话中也没怎么说。如叶老师会给我进一步的指导,我会及时转达给你的。
      我从方国铭、胡国成老师编著的《光电比色计和分光光度计》上找到两波长不同的简单复合光,偏离朗伯—比耳定律的介绍,还有网上找到了《光入射界面时反射光和入射光的偏振态》一文(可惜不是很清楚),不知这些对我们的光学专家有用吗?
      盼光学专家的发现!

入射界面时反射光和入射光的偏振态.rar

158.11 KB, 下载次数: 3, 下载积分: 金币 -1

发表于 2009-11-28 10:37:28 | 显示全部楼层
再回到杂散光的讨论中。
杂散光,准确的说叫杂散辐射能量,有以下几种定义:
1、到达检测器的波长与所规定的光谱位置不相符的所有光谱辐射。——ASTM E131-02(我看到的只有这份被替代的标准,没有05版,姑且使用)
2、Richard认为:假辐射(Spurious Radiation)与所需要的辐射(Desired Radiation)之比。
3、M.R.Sharps认为:光谱带宽以外“不要的”光通量成分。
4、M.Winstead认为:如果波长出现与仪器波长示值不同,那么这个外界的能量就是杂散辐射。
5、李昌厚从物理概念和实际测量(国际上常用的截止滤光法)出发,定义为:截止滤光片或溶液的截止点(一般透射比不为0,国际上通常取10^-4)以外的某处放上截止滤光材料的透射辐射能量与该处去掉截止滤光材料后,换上参比材料的总的透射能量之比。

可见,杂散辐射一般都涉及辐射光谱的不纯问题,也即单色光的纯度问题。但对于我们使用者,我觉得适当扩展一下杂散辐射的含义,将之包含诸如单色像差(非复合光引起的问题)、漏光、光学器件的漫反射和衍射等“杂光”,可以更好的让我们重视仪器机械、光学性能的问题。
发表于 2009-11-28 11:30:07 | 显示全部楼层
补充一点:NIST的SP260-116定义的杂散辐射分为两种。
(1)分光光度计产生的杂散辐射:与特定波长下名义光谱带宽所透过的光谱辐射不相同的那部分辐射。这种杂散辐射称为复合光(heterochromatic)杂散辐射。这一点与ASTM定义类似。
(2)样品槽产生的杂散辐射:未经过样品吸收而直接进入光电检测器的辐射通量。这种杂散辐射称为单色光(isochomatic)杂散辐射。这一点不是由于光谱纯度引起的,而是由于光学系统的表面、样品槽等对入射光的反射、衍射等原因引起的。

NIST因此还专门开发了专门测量这两种杂散辐射的标准物质。前一种是SRM2032后一种是SRM2033。有兴趣的可以看看SP260-116。
下载地址:http://ts.nist.gov/MeasurementSe ... pload/SP260-116.pdf
 楼主| 发表于 2009-11-29 07:26:29 | 显示全部楼层
vandyke :你知识面真宽,层次很高哦!还外文网站,让我傻了眼!
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