关于合像水平仪检平板的疑问？

向各位请教，工厂一般的平板等级是多少？用分度值为0.01mm/m的合像水平仪可以检几级的平板？另外，是否一定需要桥板？不需要的话，计算平板平面度的公式该如何计算呢？谢谢指教！

楼主提出了一个不是很好回答的问题：
      ⑴ 如果按照GBT 20428-2006岩石平板和GBT 22095-2008 铸铁平板标准，平板的准确度等级已经与国际标准接轨，分别为0、1、2、3四个等级；如果按照JJG117-2005平板规程，则依旧引用作废的技术文献JB/T 7974-1999铸铁平板和JB/T 7975-1999岩石平板标准，平板的准确度等级分别为00、0、1、2、3、五个等级；而且新标准与旧规程、旧标准在平面度技术指标的计算公式方面完全不同。同样是由国家质量技术监督局颁发的规程与标准的差异，给生产制造、检定/校准、产品出口带来了很大的麻烦。所以我讲楼主提出了一个不是很好回答的问题，原因就在于此。
      ⑵ 按照JJG117-2005平板规程，用分度值为0.01mm/m的合像水平仪可以检1级及以下等级的平板。
      ⑶ 用小角度测量仪器是以“节距法”检定平板，也就是讲以检被测截面的有限个点来替代被测截面的无数个点，以被测截面的直线度误差折线来替代被测截面的直线度误差曲线，搞清楚测量原理的基础上，我们就可以清楚的看出测量是一定需要桥板的。其计算公式在JJG117-2005平板规程中可以看出，实际上就是一个两端点连线直线度计算公式（不方便列出），其它所谓计算公式均是由此变形简化而来，评定方法按对角线评定原理来理解就可以了。
      ⑷ 综上所述可以看出：测量是一定需要桥板的。如果不用桥板，计算平板平面度的公式本人确实不知，可请高手来给以解答。

回复 2# xqbljc


    请教一下：
    老早的印象中，铸铁刮研平板，可以三块对研，然后看接触点数来判断等级，现在这条还有吗？

非常感谢楼上的答复，学习了。再请问有合像水平仪和桥板的厂家介绍吗？经济实惠的。

回复 3# 星空漫步

     谈不上请教，太客气了，咱们共同探讨：
     现行的JJG117-2005平板规程4.4.3规定：刮制铸铁平板的局部平面度除应按4.4.2的要求外，还应满足接触点数的要求。由于刮制工艺生产的铸铁平板实际上是由相当多数量的刮制点组成的平面，那么检测接触点数也就是控制其局部磨损的程度即局部平面度的（生产或使用造成的）。但是该项检测由于研具的大小、等级、受力，研磨轨迹等问题不好控制，难以具体量化，所以往往对检测结果容易引起争议。为此JJG117-2005平板规程在4.4.3还补充规定：对接触点数的测量结果有争议时，应测量接触点面积比率，并以此作为测量结果。但实际上接触点面积比率的检测尽管从文字描述好象有些方便具体量化，其实可操作性也不是很好，但毕竟在文字描述上好象无可挑剔。
     所以刮制铸铁平板的检测接触点数、接触点数差及仲裁方法接触点面积比率的检测均是为了控制其平板局部平面度的，这也是对“节距法”检测，“对角线法”评定缺陷的一个补充。
     至于平板生产制造过程中的“三块对研”，应该讲是传统且有其道理的一种加工工艺或检测方法（缺乏小角度测量仪器的情况下），但随着较大甚至特大规格的平板的生产制造，“三块对研”的传统方法由于无法适应，早已被突破，这也就是生产加工工艺和检测方法的进步和发展。

回复 4# sjli


    合象水平仪的制造生产厂家我们国家老资格的主要是山东潍坊量具厂，沈阳和上海水平仪厂，至于桥板和平面波动量检查仪，你可电话13305410737联系一下，我们使用后感觉还不错。

回复 5# xqbljc


    多谢解答！

    我没看过JJG117-2005（上次下载的不知道怎么打不开了），我觉得刮研平板起作用的还是那些接触点，所以其平面度不应该用普通的方法来检定，至少不能用三坐标测量机把那些凹陷部分的点也都采上。大一些的平板利用桥板进行检测应该是可以的，那小的刮研平板应该怎么做呢？

    过去，也只是小的刮研平板做三块对研，大的因为弄不动，所以也不能做三块对研。

回复 7# 星空漫步


    你的意见是对的，刮研平板确实是那些相对较高的接触点组成了平面，所以用三坐标测量机把那些凹陷部分的点也都采上显然是不合适的（凹陷部分的地方可以储藏空气，所以在使用时工件在上面推动不会有发涩的感觉），小的刮研平板做三块对研进行检测，历史上包括现在某些地方，确在用这种方法，也确实有其道理，并方便操作，只是具体平面度数值无法量化，所以规程没有推荐这种方法。但可以用刀口形直尺模拟理想直线，用塞量块的方法进行检测，当然评定还是用对角线确定的评定基准的位置去进行。

回复 8# xqbljc


    用刀口形直尺模拟理想直线，或用塞量块的方法进行检测，也无法量化吧。

    在小刮研平板上放上反射镜之类的，采用节距法测量，恐怕取不了很多个点，估计5X5还是能够做到。
    如果所取到的点数太少，那么所得出的平面度也就不那么可靠了。

    别看就那么一块平板，在实际应用中仔细想来问题还是挺多的，至少对我个人是这样子的。
    还要继续不断地学习啊！

回复 9# 星空漫步


    用刀口形直尺模拟理想直线，并同时用塞量块的方法进行检测，平面度数值是可以量化的。
    对于平板检测过程中的取点问题，JJG117-2005规程遵循的原则是：⑴取有代表性的点，比如各截面的中点、四个角点、均匀分布的那些点；⑵在能够反映平板真实情况的前提下，取的点越少越好；9、25、49、121个最少点的规定，是有实验数据做依据的，也符合规程四性的原则，即：科学性、正确性、可行性、经济性；⑶规程不反对检测平板时的多取点，只要测量结果的不确定度U≤1/3MPEV即可，所以“权利”和“义务”都在检定员手里，规程的人性化还是比较好的。

回复  星空漫步


    用刀口形直尺模拟理想直线，并同时用塞量块的方法进行检测，平面度数值是可以量化的 ...
xqbljc 发表于 2010-1-7 16:37

    多谢耐心解答！

    我对第一句话还是有些不理解，如果用刀口尺观察某一截面，缝隙多大可以由经验做大致的判断。
    我先前没注意到您上边说的“并同时用塞量块的方法进行检测”，应该是塞“塞尺”吧。

    我的疑问是用上述方法时基准怎么找、基准如何统一，单一截面的直线度是可以明白了，整个平面的平面度需要基准统一以后才能算得出来。

    用对角线法吗？刀口尺变换测量截面时，接触点也在变，所以我想不明白如何才能做到基准统一；要是中央点最高，那到方便了，如果不是呢？
是不是也只能以其中的一条线作为参照，在大概的位置上，做一个换算，最后求出平面度呢？我觉得即使是这样，如果刀口尺的接触点不在那条参考线上也会有问题。

    我这样理解对吗？

非常赞同xqbljc 的解答。
       做以下补充意见供参考：
       1.用水平仪检平板必须使用桥板。
       试想从前面的操场到二楼，到马路，再到五楼，最后到后面的操场，如果不使用桥板，在每个地点的局部平面用水平仪测量均是0，难道说前面的操场到二楼，到马路，再到五楼，最后到后面的操场这是一个平面吗？
       2.接触点数测量仅仅适用于刮制铸铁平板的局部工作面平面度检测。
       JJG117-2005的6.4条“检定结果的处理”指出“平板准确度级别的判别根据工作面平面度、局部工作面平面度和表面粗糙度的测量结果确定，取其中级别最低的作为检定结果”，“工作面平面度、局部工作面平面度和表面粗糙度”主要三个参数要求要综合评定，“局部工作面平面度”（刮研平板的接触点）不能代替整个“工作面平面度”。
       3.用分度值为0.01mm/m的合像水平仪可以检1级及以下等级的平板也不能绝对化。
       按照JJG117检定规程“表8检定项目和主要检定设备”规定“1、2级平板用分度值0.01mm/m电子水平仪或合象水平仪；3级平板用分度值为0.02mm/m水平仪”，就是用分度值为0.01mm/m的合像水平仪可以检1级及以下等级的平板的意思。但是关键还应该看到该规程的4.2条“工作面平面度测量结果不确定度应满足公式(1)要求”。即U95≤Fm/3；式中U95为平面度测量结果的不确定度，μm；Fm 为平板平面度最大允许误差，μm。在决定是否选择分度值为0.01mm/m的合像水平仪检测时，应该查一下规程的“表1 平板工作面平面度最大允许误差”然后用公式(1)计算判定一下，满足公式(1)的不论是否1级以下就都可以，不满足公式(1)，即便是2级平板也是不可以使用的。

回复 11# 星空漫步


      所谓用刀口形直尺模拟理想直线，用塞量块的方法进行检测，实际上就是在被检平板的某个截面两端分别放置相同尺寸的量块，并将刀口形直尺的工作刃口竖直放在这两块量块上面，刃口中间用合适尺寸的量块进行试塞，中间量块与两端量块的尺寸差就是该点对两端点连线的直线度偏差。同理，平板其余被测截面的直线度偏差均可这样检出。
     下一步的评定就是根据空间的两条直线可以确定一个平面的原理，由两条对角线确定理想平面（评定基准）的位置，其中一条对角线通过理想平面，另一条对角线平行于理想平面，这样理想平面（评定基准）的位置就确定下来了。通过理想平面的对角线各点对两端点连线的直线度偏差就是对理想平面的平面度偏差，平行于理想平面对角线由于和另一条对角线中间交点是同一个点，所以其对两端点连线的直线度偏差加上两条对角线交点处的高度差（平移量），应该就是该条对角线上各点对理想平面的平面度偏差。其余四条边线利用旋转就可转换到相对理想平面的平面度偏差上去，两条中线通过平移并旋转也可转换到相对理想平面的平面度偏差上去。这样，平板上各点对理想平面（评定基准）的偏差就都计算出来了。所以，平板的平面度是可以量化的。
     说实话，上述方法我从来不用，你想，用量块去试塞，很容易划伤量块，谁舍的那样去做呢！但作为一种方法写到规程里，确实无可挑剔。
     关于“基准”的问题，再罗嗦两句。此种方法的“基准”有两个，一个就是测量基准，所谓测量基准就是模拟理想直线的刀口形直尺工作刃口；另一个就是评定基准，所谓评定基准就是由两条对角线确定的理想平面位置。

回复 11# 星空漫步


    JJG117-2005的6.3.4.4条对“刀口尺法”是这样描述的：
       测量时，在平板被测截面两端放置两块尺寸相同的量块(如1mm )，将刀口尺放在量块上，用量块在截面测量点处向刀口尺与平板之间的间隙试塞，则量块刚刚塞人时的尺寸与两端量块尺寸之差，即为测量点对两端点连线的偏差。根据平面度评定方法进行数据处理，计算得出平板工作面平面度。
       这里关键是两点，一是试塞，二是计算。
       试塞的目的是得到测量点对两端点连线的偏差值大小。
       计算的目的是根据平面度评定方法进行数据处理，计算得出平板工作面平面度。但是试塞法和水平仪测量法完全不同，试塞法不属于“节距法”。在获得初始评定数据时，“节距法”采取累积法使同一截面各被检点测量数据统一到同一个测量基准上（以第一个被检点为测量基准）。试塞法得到的某一个测量截面测量数据本身则就已经是这个截面的同一个测量基准（两端点连线），两个不同截面的被检点数据只需要通过它们的某一个共同被检点联系在一起，使这个共同点的测量结果相等，就可以进行与节距法相同的下一步计算了。

多谢楼上两位的答复，今晚有事不能仔细琢磨了，等有空了再静下心来好好学习一下，有不明白的说不得还要请教。

以前从论坛里下载的JJG117今天白天不知道怎么打不开了，搞了半天原来是输入密码错了，刚刚才明白。
RAR打开后有文字显示为http://www.gfjl.org, 我把它记成密码了，可实际需要输入www.gfjl.org才能打开!有点郁闷。

回复 12# 规矩湾锦苑

      对12楼补充意见的补充：
      1.用水平仪检平板必须使用桥板
         用“从前面的操场到二楼，到马路，再到五楼，最后到后面的操场”来解释用水平仪检平板必须使用桥板，就象在你在http://www.gfjl.org/viewthread.php?tid=17438&extra=&page=2  的“山谷的小平面，山峰的小平面和另一个山谷小平面”的解释一样，既不通俗，更谈不上确切。抛开所谓的“二楼和再到五楼”不讲，所谓“操场、马路、最后到后面的操场”也未必就是一个平面，在每个地点的局部平面用水平仪测量也未必“均是0”，他们相对于水平面难道就不可以向相反的方向倾斜吗？！所以用水平仪检平板必须使用桥板的原理，还是用以检被测截面的有限个点来替代被测截面的无数个点，以被测截面的直线度误差折线来替代被测截面的直线度误差曲线来解释更为合理、清晰。
      2. 刮研平板的接触点与局部工作面平面度的关系，不能彼此等同或替代。刮研平板的接触点检测仅对由刮制加工工艺生产制作的铸铁平板有关，而局部工作面平面度检测却对所有加工工艺生产制作的铸铁平板、岩石平板等（应该也包括陶瓷平板等）均有关。所谓工作面平面度实际上就是工作面整体平面度（现行平板标准），它与局部工作面平面度的关系应为整体包含局部，局部决定整体。
    3.规程中合像水平仪可以检1级及以下等级的平板的规定，不必再去考虑规程的4.2条“工作面平面度测量结果不确定度应满足公式(1)要求”。即U95≤Fm/3”；因为规程正是在考虑到此要求的基础上，才提出了合像水平仪可以检1级及以下等级的平板的规定。所以不存在所谓“绝对化”的问题。另外除规程外，许多计量杂志，计量技术资料均对合像水平仪可以检1级及以下等级的平板有过分析文章探讨。应属板上定钉的事。

回复 14# 规矩湾锦苑


      你的“节距法”采取累积法使同一截面各被检点测量数据统一到同一个测量基准上（以第一个被检点为测量基准）”的说法，依旧是你自己过去的说法，也依旧是别人无法看懂的说法。在“节距法”测量中，我依旧坚持所谓测量基准就是小角度测量仪器的主光轴或其相对、绝对水平零位。什么“以第一个被检点为测量基准”或“统一到同一个测量基准上”的话，只能是自己解释不过去，别人无法看懂的自创话语。
      在“刀口尺法”测量中，测量基准我前面谈到应该是模拟理想直线的刀口形直尺工作刃口，它与两端点连线可能重合，但决不是一个东西，两端点连线应该是近似评定直线度误差的评定基准，测量基准与评定基准在坐标系中可以重合，但不应该混为一谈，它俩完全是两件事。

感谢大家的共同分享，看了下规程和大家所说，我们打算购买合像水平仪，但不知桥板购买多长尺寸的好？有什么规格要求吗？

回复 18# sjli


    桥板的可调整范围一般为（100～600）mm。

回复 17# xqbljc


    我觉得形位误差测量中有三个关于“基准”的概念要非常清楚，即“测量基准”、“评定基准”、“基准要素”。
       对于基准要素，因为平直度测量的是“单一要素”，不是“关联要素”，所以就不存在“基准要素”的问题。我们可以不讨论。
       对于平面度的评定基准就是符合最小包容区域条件的理想平面，有时候人们往往用接近于最小包容区域平面的平面作为评定基准，例如：对角线平面，最小二乘平面、三远点平面等。无论采用什么测量方法，评定基准都是相同的，也就是说各种平面度评定计算方法均适用于采用任何测量方法方法得到的检测数据处理。
       我们现在讨论的所谓方法的不同，其本质就表现在测量基准的不同。测量基准是读数的参考对象。
       为了便于说明问题，我们以直线度测量为例，被测点分别为0、1、2、3、4五个。采用节距法测量，第1点是相对于0点读数的，0点是测量基准；第2点是相对于1点读数的，1点是测量基准；以此类推，2点是第3点的测量基准，3点是第4点的测量基准。因此节距法的每个被检点测量基准不是同一个。水平面不是海平面，任何海拔高度都可以产生水平面，因此用水平仪测量直线度不使用桥板，在任何海拔高度都有可能读出0的，这就是我说的操场、马路、几楼、山峰都可以得到0，可是我们却绝对不可能把它们用一条直线连接，即直线度绝对不是0。用自准直仪和光靶测量直线度，测量基准只有一个，就是射出来的光线，每个被检点的读数都相对于这个基准读数，如果每个点的读数都是0，我们完全可以大胆地说，直线度误差就是0。
       进行直线度的评定首要条件是，参与评定的数据必须是同一个测量基准下得到的数据。于是我们对于节距法测得的数据就必须将各被检点的测量基准统一到同一个测量基准上去后，变成由统一的测量基准测得的数据，使基准统一的最有效的方法就是累积法。而自准直仪测量的数据则不必统一基准，因为测量基准本来就是统一的。至于“以被测截面的直线度误差折线来替代被测截面的直线度误差曲线来解释”，我觉得这不是节距法的特点，任何方法测得的结果都是用被测截面的直线度误差折线来替代被测截面的直线度误差曲线。

关于第2点. 我同意你的“刮研平板的接触点与局部工作面平面度的关系，不能彼此等同或替代。刮研平板的接触点检测仅对由刮制加工工艺生产制作的铸铁平板有关，而局部工作面平面度检测却对所有加工工艺生产制作的铸铁平板、岩石平板等（应该也包括陶瓷平板等）均有关”意见。但是“局部决定整体”并不是“局部代替整体”，整体平面度和局部平面度是平板检定的两个不同的参数，必须同时满足，相互之间不能替代。接触点检验是刮研平板的局部工作面平面度的检定方法之一，但是决不能代替整体平面度的检定。

关于第3点，我不太赞同你“不必再去考虑规程的4.2条”的意见。作为国家计量技术标准，每一条都是重要的。而且我觉得JJG117检定规程表8的规定是对4.2条的落实，不能完全代替4.2条，例如平板规格过小或者过大，就不能按表8。也就是说平板过小，0.01的合像水平仪不可以检1级平板，平板过大0,01的合像水平仪可以检高于1级的平板，应该按“工作面平面度测量结果不确定度应满足公式(1)要求”，即U95≤Fm/3的原则选择测量设备，4.2条是平面度测量的测量设备选择根基。

回复 20# 规矩湾锦苑


    问题的探讨，已经超出了楼主所提问题的范围，但对平直度检测应该讲还是有益的，所以不存在“跑偏”的情况。
    楼上所谈到的三个关于“基准”的概念，最后一个“基准要素”，应理解为测量、评定基准或被测量的点、线、面、体等的几何要素，同意楼上的意见，此所谓的“基准要素”，可以暂不讨论。
    在探讨问题之前，有必要对我们国家平直度量具的标准和检定规程的发展及变化做一个大概的了解：
    20世纪50年代末，国家标准计量局制定的平直度量具检定规程有21-58《平板》、23-58《平晶》、28-58《平尺》等，这些基本是参照前苏联标准（规程）制定的；
    20世纪60年代初，国家标准计量局制定的平直度量具精度规范有GL28-62《平晶》、GL31-62《平板》、GL32-62《检验平尺》；
    20世纪60年代中期，国家标准计量局修订了规（G）长-21-65《平板》、规（G）长-23-65《平晶》、规（G）长-28-65《宽面平尺》等，这些基本是1958年检定规程的翻版，也就是讲内容改动不大；
    20世纪70年代国家计量局修订了JJG63-75《样板直尺》、一机部制定了JB2214-1977《检验平尺》，随着形位公差试行标准的宣贯，国家计量局、一机部组织了两次平板检测研讨会，即1976年夏的北京会议、1977年的襄樊会议。在这之后，国家计量局修订了JJG116-78《平尺》和JJG117-78《平板》两个检定规程。
    20世纪80年代国家技术监督局发布了GB11336-1989《直线度误差检测》、GB11337-1989《平面度误差检测》，这使平直度检测有了基础标准。这期间国家标准局修订了GB4986-1985《铸铁平板》、GB4987-1985《岩石平板》、GB6318-1986《铸铁平尺》、GB6319-1986《钢平尺和岩石平尺》等标准；国家计量局修订了JJG28-80《平晶》、JJG116-83《平尺》等规程。1984年，国际标准化组织提出了ISO/DP8512/1.2：1984《平板国际标准建议草案》，这也就是我们国家现行平板标准的雏形；
     20世纪90年代后国家技术监督局修订了JJG28-91《平面平晶》、JJG117-91《平板》等规程；还修订了JB/T7977-1999《铸铁平尺》、JB/T7978-1999《钢平尺、岩石平尺》、JB/T7974-1999《铸铁平板》、
JB/T7975-1999《岩石平板》等标准；
     本世纪 国家技术监督局修订了JJF1059-1999《测量不确定度评定与表示》和 JJF1094-2002《测量仪器特性评定》替代JJF1027-1991《测量误差及数据处理技术规范》，还修订了JJF1097-2003《平尺》；
     2004年国家质量技术监督检验检疫总局修订了GB11336-2004《直线度误差检测》、GB11337-2004《平面度误差检测》、GB/T6091-2004《刀口形直尺》等标准；
     2005年国家质量技术监督检验检疫总局修订了JJG117-2005《平板》等规程；
     2006年国家质量技术监督检验检疫总局修订了GB/T20428-2006《岩石平板》标准，从而与国际标准进行了接轨。
     2008年国家质量技术监督检验检疫总局修订了GB/T22095-2008《铸铁平板》标准，从而与国际标准进行了接轨。
     2009年国家质量技术监督检验检疫总局修订了JJG28-XXXX《平晶》规程，现已通过审定。
     以上就是我们国家平直度量具的标准和检定规程的发展及变化的一个大致情况，了解这些发展及变化的过程与来龙去脉、内在原因等，对我们今天探讨问题应该讲是非常必要同时也是有益的。
     楼上谈到： 用接近于最小包容区域平面的平面作为评定基准，例如：对角线平面，最小二乘平面、三远点平面等。无论采用什么测量方法，评定基准都是相同的。这应该是不可能的事情，所谓 评定基准是否相同，主要指的是其“位置”是否相同，试想，当确定其位置的要素：对角线平面，最小二乘平面、三远点平面等均不相同的情况下，评定基准的位置怎么会相同呢？！这也就是JJG117-2005规程推荐对角线法的原因之一。尽管对角线法评定所得到的平面度是近似的，是不符合最小条件准则的，但结果却是唯一的；而三点法尽管也是近似的，是不符合最小条件准则的，但结果却不是唯一的，这不就是由于确定评定基准的要素不同，而导致评定基准的位置不同，进而导致它们的评定结果及唯一性不同吗？！所以“评定基准都是相同的”的说法是没有道理的。

回复 20# 规矩湾锦苑
续前页：

    楼上阐述观点的主要错误在于对测量基准的不正确理解，所以其谈到“现在讨论的所谓方法的不同，其本质就表现在测量基准的不同”，我们现在探讨的问题是使用小角度测量仪器（水平仪或自准直仪），以“节距法”对被测截面进行直线度测量，所谓方法的不同，在“节距法”的前提下，只能是布线布点的方式和评定基准的位置不同，在正确操作的基础上与测量基准不可能出现的不同无关。
     我们在直线度测量中谈到的测量基准通常分为三类：实物基准、水平基准和光轴基准，实物基准不是我们今天探讨的问题，放在一边；水平基准（如水平面、液面等），它是以垂直于重力的平面做测量基准（也可用相对水平面做测量基准），光轴基准（如自准直仪、准直望远镜的光轴），它是以仪器光轴做为测量基准。
     楼上在没有讲清楚使用何种仪器的情况下，举例讲明，在所谓0～1、1～2、2～3、3～4点.....的测量过程中，我们可以理解为是首尾衔接的“节距法”的测量，（也就是桥板下面两个接触点的连线与测量基准绝对或相对水平面、仪器主光轴的倾角变化测量。不存在前一个点是后一个点的测量基准的说法），由此得出“节距法的每个被检点测量基准不是同一个”的结论，这样的结论意味着在“节距法”测量同一个截面的过程中，测量基准是在不断的变化的。此结论往小里说是不对的，往重里讲是对测量原理的不了解，也不理解的误导性错误。此错误使我联想到30年前XX规程审定会议上XX专家大谈所谓万能角度尺的测量不符合阿贝原则，我真不明白，角度测量与阿贝原则有什么关系吗？！
     测量基准在“节距法”测量过程中（同一个测量截面），是否应、会发生变化？这应该属于基础性的东西，没必要在此详细解释了，摘录JJG117规程中的一句话供感兴趣的量友思考，“每次移动桥板时，必须首尾衔接。在桥板移动过程中，反射镜或水平仪与桥板不得有相对位移”。规程中的这段话实际上讲明了，在同一个测量截面的测量过程中，小角度测量仪器不得再次对其进行人为不当的调整，正确操作前提下，保证测量基准不会也不应该发生变化。
     另外在平面度整个测量过程中，测量基准不会也不应该发生变化，还可以用方格布线布点（俗称井字法、王字法等）来解释，此种布线布点的方式只能使用水平仪类仪器来测量，就是为了保证在整个测量过程中测量基准不发生变化，这点自准直仪类仪器是很难或根本做不到的。
     楼上所谓“操场、马路、几楼、山峰.....”通俗化解释，本人还是认为不够确切，因为只有在对测量原理性的东西完全理解的基础上，才能谈出确切的通俗化解释。
     楼上关于“用自准直仪和光靶测量直线度”的观点（光靶应该是测绘界的术语），本人认为还是对的。但感到不好理解的是为什么到了这里，楼上就认可了在同一个测量截面的测量过程中“测量基准只有一个”，而不是随测量点的不同而不停的变化了呢？！难道会因小角度测量仪器的不同，又是在“节距法”的前提下，测量基准的变化发生了什么不同吗？确实有些让人费解。至于“每个被检点的读数都相对于这个基准读数，如果每个点的读数都是0，我们完全可以大胆地说，直线度误差就是0”。我也可以这样讲：如果每个位置的读数都是不为0的同一个数，在首尾衔接的前提下，我们完全可以理直气壮地说，直线度误差就是0。但这些话语与解释测量原理或者测量基准是否发生了变化，并无实质性的弥补。
     楼上在最后的文字描述中，反复谈到“必须将各被检点的测量基准统一到同一个测量基准上去”，并讲明“使基准统一的最有效的方法就是累积法”。这里又冒出了一个所谓的“累积法”，让人匪夷所思。所谓的“法”实在是太多了，难怪一些初接触平直度测量的量友会有某些畏难情绪，所谓“累积法”，个人理解就是在原始数据的处理过程中依据两端点连线评定方法的一种数据处理步骤，为此，对实际上“节距法”测量方法过程中可以讲唯一的数据处理公式两端点连线计算公式用文字做以下展示（不方便用公式表达）：
    被测截面任一点（第i点）对两端点连线的直线度＝被测截面任一点（1～i点）仪器读数的累积值－i/n被测截面的末点（1～n）仪器读数的累积值      注：i为被测截面任一点的序号；n被测截面的末点序号；   累积时（特别是作图时）应注意不要漏下测量过程中的起始点（0点）。
    估计楼上所谓的“累积法”，就是由于两端点连线计算公式右边所谓两个累积值而来的，实际上这两个累积值非常好理解，前面的累积值可以理解为被测截面上任一点（第i点）到x轴的纵坐标距离，后面的累积值乘以i/n，可以理解为第i点的坐标转移量，此转移量可以很方便的由初等数学中的相似三角形对应边成比例计算得出。在此提醒楼上，今后在谈所谓“方法”时，应尽量说清楚是测量方法，还是评定方法，或者是布线布点的方式及原始数据处理的过程，混为一谈很容易把别人（也包括自己）搞晕的。
    至于“以被测截面的直线度误差折线来替代被测截面的直线度误差曲线”来解释“节距法”，我觉得是非常有道理的，因为所谓的“节距法”，就是把被测截面分成了若干段，使用小角度仪器测出每一段（或每一位置）相对于测量基准（水平基准或光轴基准）的倾角变化（也有称斜率变化），这应该是基础的该方法测量原理，后面就是依据tgθ≈θ的小角度测量中的近似计算推导出了可以讲是唯一的两端点连线计算公式。近似的程度可以按用被测直线的有限个点来替代被测直线的无数个点，用被测平面的有限条线来替代被测平面的无数条线来解释，所以折线≈曲线是“节距法”的明显特点，是通俗易懂的规范化解释。你的“任何方法测得的结果都是用被测截面的直线度误差折线来替代被测截面的直线度误差曲线”的结论应该讲是缺乏前提条件的，试问：所谓“干涉法”、“钢丝绳法”等会符合你“任何方法测得的结果”的折线≈曲线的结论吗？！所以，探讨问题的话语与文字还是应该严格、规范为好。

回复 21# 规矩湾锦苑


    此帖应该讲相同意见居多，所以没必要仔细探讨。
    在此，仅对“局部决定整体”的说法进行简单的解释（整体包含局部的说法应该讲不会引起争议）。
    在文字材料和各个帖子上我对使用小角度测量仪器，以“节距法”的测量直线度的测量原理有过清楚的说明和解释，相信大部分量友比我理解的还到位，所以没必要在此浪费大家的时间。正是由于测量方法存有很大的缺陷（平面上绝大部分位置未检到），加之加工工艺的不足和使用中的局部磨损，所以检定所得到的平面度应该讲并不是被测平面的真实反映，在经过几十年的争议、实验和摸索、借鉴中，我们把平面度人为的分成了整体和局部之说，用局部平面度检定来弥补上述的不足与缺陷。所以这里出现了“局部决定整体”的说法，应该讲是有其深刻道理的，相信广大量友会接受此说法和检定项目局部平面度增加的理解。但这些与所谓“代替”无关，属于无故延伸出来的话题没必要去探讨。
     对于“整体平面度和局部平面度是平板检定的两个不同的参数”之说，本人不置可否。因为平面度测量应该是平板检定中的一个参数，但因为前面提到的原因，人为的分成了整体和局部的表面看好象是两个平面度，实则是一个，它们是相辅相成，互相包含和决定的东西。
    对于楼上“接触点检验是刮研平板的局部工作面平面度的检定方法之一，但是决不能代替整体平面度的检定”。本人持赞成态度。但如果在话的后面再加上一句“同时也决不能代替局部平面度的检定”，这样，观点的确立就更完整也更严格了。