计量论坛

 找回密码
 成为会员

QQ登录

只需一步,快速开始

搜索
查看: 4761|回复: 6

[光谱/光度] 今天遇到的1810光谱扫描的怪现象

[复制链接]
发表于 2010-4-7 16:46:38 | 显示全部楼层 |阅读模式

立刻注册计量论坛 交流工作中的点滴

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?成为会员

x
今天在一个单位检测北京普析公司生产的一台1810型紫外可见分光光度计,在进行光谱扫描的时候,出现了一些情况。扫描的条件设置如下:范围810~400nm,扫描间隔0.5nm,中速,在扫描到600多nm及以后的时候,出现一系列紧密排列的十分高的吸收峰,高的可以到达20多abs,同样的情况发生在扫描范围700~230nm的条件下(其他扫描条件没变)。但是,当把扫描范围设置为400~230nm以及810~400nm进行扫描时(间隔及扫描速度等条件同上,均未变),一切正常。
     但是在检测该公司生产的紫外可见的时候,从来没有遇到过。
     各位有遇到这种现象的吗?讨论讨论?
发表于 2010-4-7 18:29:22 | 显示全部楼层
我在测截止滤光片吸光度光谱时也碰到类似情况。所谓一系列密集排列十分高的吸收峰,倒不如说就是伪信号,就是异常噪声。因为仪器不能可检测到20Abs的吸光度,目前国际上商业用最顶级的分光也就标称能测量8Abs,出现20多Abs只能是伪信号。当时我估计是吸光度太大时,仪器的光电倍增管会加大放大增益,从而导致噪声急剧增加,为信号可能是劣化的噪声信号;也可能是测量数据超出软件的处理范围,溢出的信号就是伪信号。

至于你的情况有所不同,全当抛砖引玉。

首先不知道你是做基线扫描还是扫描滤光片。其次一般从高波往低波扫,若反过来,数据有可能不正确(软件原因)。看你的描述似乎是分段扫描就不出现这种情况,当全谱扫描就出现是不是?

评分

参与人数 1金币 +4 收起 理由
乔浩 + 4 热心回复

查看全部评分

 楼主| 发表于 2010-4-8 07:02:45 | 显示全部楼层
本帖最后由 porny 于 2010-4-8 07:06 编辑

是扫描滤光片,分别扫描的镨钕和氧化钬。
  前面有点错误,其中第二次扫描镨钕的范围从从810到500nm左右。两次扫描的范围不一样
发表于 2010-4-12 13:05:52 | 显示全部楼层
应该做基线校正在试试
 楼主| 发表于 2010-4-13 08:00:30 | 显示全部楼层
先进行的基线校准。
发表于 2010-4-16 11:38:00 | 显示全部楼层
我碰到过类似情况,扫描氧化钬滤光片的时候,出现许多不正常的吸收峰,密密麻麻,原因是基线没有走,走一遍基线就正常了
 楼主| 发表于 2010-4-19 10:11:36 | 显示全部楼层
在之前,先做的基线校准。从理论上来说,就算不做基线扫描,也只是会产生一些误差,但是,这种误差不应该产生是这样的“伪信号”吧?
您需要登录后才可以回帖 登录 | 成为会员

本版积分规则

小黑屋|手机版|Archiver|计量论坛 ( 闽ICP备06005787号-1—304所 )
电话:0592-5613810 QQ:473647 微信:gfjlbbs闽公网安备 35020602000072号

GMT+8, 2024-3-28 22:58 , Processed in 0.053208 second(s), 21 queries .

Powered by Discuz! X3.4

Copyright © 2001-2023, Tencent Cloud.

快速回复 返回顶部 返回列表