GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇

【 标准编号 】 GB/T 19403.1-2003
【 标准名称 】 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）  
【 英文名称 】 Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
【 发布单位 】 国家质量监督检验检疫总局
【 发布日期 】 2003-11-24
【 实施日期 】 2004-8-1
【 开本页数 】 22P
【 采用关系 】 IDT IEC 60748-11-1:1992
【 起草单位 】 信息产业部第四研究所
【 起 草 人 】 魏华; 王静