GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系……

【 标准编号 】 GB/T 14863-93
【 标准名称 】 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法  
【 英文名称 】 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
【 发布单位 】 国家技术监督局
【 批准单位 】 国家技术监督局
【 发布日期 】 1993-12-30
【 实施日期 】 1994-10-1
【 所属标准 】 GB
【 开本页数 】 12P
【 引用标准 】 SJ 1550
【 起草单位 】 机械电子工业部46所; 机械电子工业部4所
【 起 草 人 】 孙毅之; 张若愚; 谢重木; 韩艳芬