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ASTM E 2244-2005 用光学干涉仪测量薄的反射膜的面内强...

兑水 发表于 2009-11-17 16:04:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

E2244-02 Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

ASTM, 光学干涉仪, 反射

ASTM E 2244-2005.pdf

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