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[工程参量] X射线荧光镀层测厚仪

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18350222659 发表于 2024-11-27 10:30:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
认可领域
仪器图片:
仪器名称: X射线荧光镀层测厚仪
仪器俗称/别名:
英文名称: X-ray fluorescence coating thickness gauge
型号规格:
生产厂家: -
相关规程/规范: JJF 1306 X射线荧光镀层测厚仪校准规范
测量范围:
技术指标: -
等级:
分辨率:
计量标准与配套设备: -
推荐标准器品牌:  
描述: X射线荧光镀层测厚仪是一种基于能量色散方法的非破坏性定量分析仪器，具有分析测量多种金属材料成分和多种镀层厚度的功能，广泛应用于电子、半导体、首饰、材料分析等行业。
镀层测厚检定, X荧光测厚, 荧光测厚仪, 覆层测厚, JJG818
X射线荧光镀层测厚仪 图1.png
X射线荧光镀层测厚仪 计量特性.png

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众合长度计量 发表于 2026-4-20 13:54:37 | 显示全部楼层
校准这个设备得准备多少厚度片
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