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[几何量仪器] 原子力显微镜的双探针接触测量研究

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酱里个酱 发表于 2016-3-16 14:45:56 | 显示全部楼层 |阅读模式
张华坤1,2,高思田2,李伟2
1.合肥工业大学仪器科学与光电工程学院
2.中国计量科学研究院

摘要 为实现双探针原子力显微镜的探针对准,用探针A对探针B的成像进行了深入的研究。首先对音叉探针进行有限元仿真,分析探针的机械特性。其次用锁相放大器获取探针的幅度和频率信号,让探针接近样品(硅片)以获得系统的分辨率。最后在YOZ平面用探针A对探针B扫描成像,逐步缩小扫描范围并同时减小扫描步进。实验表明,探针的分辨率优于1 nm,双探针对准精度可达5 nm。

原子力显微镜的双探针接触测量研究.part1.rar

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原子力显微镜的双探针接触测量研究.part2.rar

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