平直度专业计量检定员试题
一、填空题
1.刀口形直尺是以光隙法检测 和的量具。
2.平行平晶两个工作面的相互平行度,Ⅰ、Ⅱ系列不大于μm,Ⅲ系列不大于 μm。
3.一级平晶的平面度对φ150mm平晶来说,要求不大于μm,二级平晶的平面度对φ100mm平晶来说,要求不大于μm。
4.平行平晶在检定前需要放置在温度为的恒温室内,等温时间不少于小时。
5.研磨面平尺主要用于检定和准确度的样板直尺工作棱边的直线度。
6.框式、条式水平仪是利用的原理,以直接显示角位移的计量器具。
7.平板按材料分为和。
8.平尺是工作面为平面,用于测量工件表面和的量具。
9.平板工作面平面度的检定,JJG117-2005平板规程推荐的两种方法是和。
10.电子水平尺是由和及其他辅助部分构成。
二、选择题
1.用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为。
(1)0.9μm (2)0μm (3)1.8μm
2.若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为圆形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是。
(1)平 (2)凹 (3)凸
3.平面度误差是指包容实际表面,且距离为的平行平面间的距离。
(1)最大 (2)最小 (3)给定 (4)任意
4.检定平晶平面度时,能发现测量误差的方法是法。
(1)两面 (2)三面 (3)多面(即多于三面)法
5.用等厚干涉法检定平晶的平面度时,在整块平晶上干涉条纹数以调整到情况为宜。
(1)干涉条纹为1条 (2)干涉条纹为3条或5条 (3)干涉条纹为2条或4条
6.用等厚干涉法测量平直度时,两条相邻暗条纹所对应的空气层厚度差为。
(1)(1/2)λ (2)λ (3)(1/4)λ
7.对直线度进行评定时,最终仲裁的评定方法是。
(1)两端点连线 (2)最小条件法 (3)最小二乘法
8.在检定样板直尺工作棱边直线度时,应用。
(1)节距法 (2)打表法 (3)光隙法 (4)互检法
9.在检定平晶平面度时,如果用手触摸平晶调整平行的时间过长,会使平晶的平面度。
(1)变凹 (2)变凸 (3)不变
10.用以下三种方法检定长平晶的直线度时,若出现争议,应以的结果为准。
(1)用参考标准长平晶 (2)用三面法互检 (3)用四面法互检
三、问答题
1.平面度的定义是什么?在评定平面度时,符合“最小条件”的判别准则是什么?
2.用等厚干涉法检验平面度时,如何判别平面的凹凸?
3.在(20±3)℃每小时变化0.4℃的恒温室内和在(15~25)℃的非恒温室,但每小时温度波动不大于0.1℃的条件下,检定(φ100~φ150)mm平晶,哪一种条件下更适合于检定工作?简述其主要理由。
四、计算题
1.试叙述如何使用三面互检法检定平晶的平面度,并给出平面度计算公式。
2.在平面等厚干涉仪上检定一块φ80mm的平面平晶,若测得干涉条纹的宽度a为25格,弯曲量b为4格,请计算出平面度△h,并指出此平晶为几级(波长λ=0.5896μm)。
试题答案
我原先的格式和上传后的格式不差别,不知道什么原因,还有有些公式不能上传?
答案:
一、填空题
1.刀口形直尺是以光隙法检测直线度和平面度的量具。
2.平行平晶两个工作面的相互平行度,Ⅰ、Ⅱ系列不大于0.6μm,Ⅲ系列不大于0.8 μm。
3.一级平晶的平面度对φ150mm平晶来说,要求不大于0.05μm,二级平晶的平面度对φ100mm平晶来说,要求不大于0.10μm。
4.平行平晶在检定前需要放置在温度为(20±3)℃的恒温室内,等温时间不少于10小时。
5.研磨面平尺主要用于检定0级和1级准确度的样板直尺工作棱边的直线度。
6.框式、条式水平仪是利用液面水平的原理,以水准泡直接显示角位移的计量器具。
7.平板按材料分为铸铁平板和岩石平板。
8.平尺是工作面为平面,用于测量工件表面直线度和平面度的量具。
9.平板工作面平面度的检定,JJG117-2005平板规程推荐的两种方法是节距法和刀口尺法。
10.电子水平尺是由倾角传感器和数字显示器及其他辅助部分构成。
二、选择题
1、(2)
2、(2)
3、(2)
4、(3)
5、(2)
6、(1)
7、(2)
8、(3)
9、(1)
10、(3)
三、问答题
1、答:平面度被定义为:实际平面对其理想平面的变动量,他等于包容实际表面而且距离为最小的两平行平面的距离.
判别准则:(1)一个最低(高)点的投影位于由三个等值最高(低)点所组成的三角形以内.(2)两个等值最低点的投影位于两等值最高点连线的两侧.
2、答:用在某一端加压力的方法判别该平面是凹还是凸.当干涉条纹中心移向加压的地方.则表明该平面是凸的.
或:在曲率中心线上一侧轻轻加压,如果条纹变密,加压处是"接触点".如果条纹变宽,则加压处另一端是"接触点".当条纹曲率中心与"接触点"同侧,则表明呈凸形,测得值取正号.反之,则表明呈凹形,测得值取负号.
3、答:在(15~25)℃的非恒温室,但每小时温度波动不大于0.1℃的条件下更适合检定工作,在检定平晶的过程中,室内的温度波动会导致平晶内处温度不均匀,由于热膨胀大小不一样,会不断改变平晶的平面度.因此,在检定平晶的平面度时,温度波动小的非恒温室要比温度波动大的恒温室中检定效果更好.
[ 本帖最后由 duomeiti 于 2007-6-2 15:02 编辑 ] |
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