GB/T 15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分

【 标准编号 】 GB/T 15651.3-2003
【 标准名称 】 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法  
【 英文名称 】 Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3Optoelectronic devices—Measuring methods
【 发布单位 】 国家质量监督检验检疫总局
【 发布日期 】 2003-11-24
【 实施日期 】 2004-8-1
【 开本页数 】 24P
【 引用标准 】 GB/T 2421-1999; IEC 60270:1981
【 采用关系 】 IDT IEC 60747-5-3:1997
【 起草单位 】 华禹光谷股份有限公司半导体厂
【 起 草 人 】 陈兰; 那仁; 王守华