本帖最后由 都成 于 2015-10-25 11:13 编辑
对多个关联的“量”(如用同一把卡尺测量矩形的长、宽,用以获得矩形的面积)进行测量】,其中“未定系统误差”分量的“合成”便必须用“绝对和”。 这个说法是可以的,因为用同一把卡尺测量矩形的长、宽,这就存在相关,即如果将长测大了的话,很有可能也将宽测大了,尤其是长宽接近时。此时“未定系统误差”分量的“合成”便可用“绝对值和”。 但是,如果用两把不同的卡尺分别测量矩形的长、宽,由于两把卡尺的示值误差的大小和符号都是不确定的,此时如果一把尺子如果将长测大了,另一把尺子不一定也将宽测大了,也有可能测小了,即此时两者不相关。“未定系统误差”分量的“合成”还能用“绝对值和”吗?为打消有些人的疑虑,再说的过分些,用一把中国和一把美国的卡尺分别测量矩形的长、宽,此时相关吗?“未定系统误差”分量的“合成”还能用“绝对值和”吗?如果有人还千方百计地说相关,那可能就无不相关的了,都去忙于求相关系数吧!估计已痴迷于相关了。njlyx先生是不会的。 .... 否则,便会导致【用任意一把检验合格的卡尺测量某个长度,只要测量次数足够多,其测得值的平均值就会足够接近该被测长度的真值,即“测量不确定度”接会足够小——只要测量次数成百上千,游标卡尺也能测出“亚微米‘测量不确定度’的测量结果”的荒谬论调。】 上面这段话有些莫名其妙,测量次数足够多,其平均值就会足够接近该被测长度的真值?测量次数足够多会使得随机效应的影响削弱到趋于零,这是进行多次测量取平均值做结果的理论依据,也是进行多次测量的回报!由于所用仪器系统误差的存在,其平均值仍然会偏离真值,仍然存在未定系统误差带来的不确定度。这就是无论测量多少次,就是累死,也不可能用低等级的仪器测量出高准确度的结果。
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