∵θ角非常小,∴tanθi≈θi(小角度测量原理); 又∵跨距L为常数,为方便推导,在提取公因式后,暂放在一边; ∴∑tanθi (i=1~i)=∑θi (i=1~i) 此∑θi (i=1~i)就是JJG117-2005《平板》规程中的公式(8)的∑ai(i=1~i)的“初始阶段”摸样。 同理:则被测截面末点至测量基准X轴的纵坐标投影(高度),也就是n点到起始点(i=1~n)各点的高度差累积值: ∑tanθi (i=1~n)=∑θi (i=1~n) 此∑θi (i=1~n)就是JJG117-2005《平板》规程中的公式(8)的∑ai(i=1~n)的“初始阶段”摸样。 JJG117-2005《平板》规程中的公式(8)中两个求和(∑),通过前面的分析、论述和推导,应该讲已经基本上说清楚了,它们分别是初始阶段的∑θi(i=1~i)和∑θi(i=1~n)。我们再来看前面用文字描述方式画出的直线度曲线图,被测截面上任一点i点到测量基准X轴的纵坐标投影(或称各点高度差累积值),其与两端点连线相交于i′点,则被测截面上i点到i′点的纵坐标投影,就应该是被测截面上任一点(i点)到评定基准(两端点连线)的偏差,在直线度曲线图上可以清楚的看到,此偏差为: δi=(i点到测量基准X轴的纵坐标投影)-(i′点到测量基准X轴的纵坐标投影) 直线度曲线图的末点我们暂且用n′表示: ∵△Oii′∽△Onn′,∴△对应边成比例 故:线段ii′:∑i(i=1~n)=i:n 即:线段ii′=i/n∑θi(i=1~n) (i′点到测量基准X轴的纵坐标投影) ∴直线度测量中唯一性的两端点连线计算公式就是:被测截面任一点(i点)对评定基准两端点连线偏差,写成公式如下: δi=[∑θi(i=1~i)]-[i/n∑θi(i=1~n)] 注:上述公式中的i/n∑θi(i=1~n)在许多参考资料中被称为“坐标转移量”。 两端点连线计算公式中的“倾斜角”,经与换算系数1000(μm),仪器分度值τ及跨距L给以线值换算后,即可写为ai(μm),也就是两端点连线计算公式的“后期阶段”,被写成与JJG117-2005《平板》规程中的公式(8)完全一模一样了: δi=[∑ai(i=1~i)]-[i/n∑ai(i=1~n)]
(μm)
(后续) |